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                光电工程
                    
第39卷第3期                                  光电工程                                       V0ll-39.NO.3 
2012年 3月                         Opto—ElectronicEngineering                         March,2012 
文章编号:1003—501X(2012)03—0057—09 
                    LCD组件检测中用MTF评估 
                           自动聚焦分辨率的方法 
                           李 琪,卢荣胜,王成顺,付 琰 
                         (合肥工业大学 仪器科学与光电工程学院,合肥 230009) 
    摘要:液晶检测设备在 自动聚焦后由于焦距变化 ,成像分辨率也不可避免的发生变化,为此必须提供一种快速评 
    估检测设备实际分辨率的方法。由于检测设备总分辨率为镜头分辨率与相机分辨率的乘积, 因此论文提出先根据 
    相机的各种噪声模型建立相机对比度分辨值 ,接着用频率渐变的LCD黑白样条光栅评估不同频率下镜头MTF的 
    像质退化情况,最后通过分析分辨率与对比度关系,得出相机最高对比度下能够分辨出的经过成像系统像质退化 
    产生亮暗模糊所对应的空间截止频率。实验表明在使用光学检测设备对手机背光源进行缺陷检测时,论文的方法 
    评估实际分辨率17Ixm,用背光源标定样品实际检测后可以得到,对于 17um 以上缺陷检测设备都能清晰成像, 
     因此结果证明了该方法的有效性。 
    关键词:自动聚焦;相机对比度;MTF;镜头分辨率;LCD黑白样条 
    中图分类号:TH741                      文献标志码:A ’            doi:10.3969j/.issn.1003—501X.2012.03.01l 
                    Auto.f0CUSResolutionEstimationUsingM TF 
                        M ethodinLCD ComponentsInspection 
                       LIQi,LURong—sheng,WANGCheng—shun,FUYan 
                      (InstrumentationScienceandOpticalElectronicEngineeringCollege, 
                            HefeiUniversityofTechnology,Hefei230009,China) 
    Abstract:BecauseoffocuschangingwhenTFT inspectiondeviceperformingautofocus,theresolutionofdevicewill 
    inevitably changes.So thereisaneed toofferafastestimation method fordevice’Sactualresolution.Sincetotal 
    resolutionistheproductofcameraresolutionandlensresolution,atfirst,cameracontrastlimitissetupbasedonallkinds 
    ofnoisemode1.Then,LCDwhiteandblackbarrfingeareusedwhosefrequencychangesgraduallytoestimatelensM TF 
    degeneration.Finally,through relationshipbetween resolution andcontrast,thespatialcutthrough rfequencycanbe 
    calculatedbydifferentiatingimagingsystem ’Slightdarkblursmallestdifferencesathighestcameracontrastdistinguish 
    condition.Experimentalresultsindicatesthatwhenusingopticinspectiondevicetoexaminecellpho
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