欠采样噪声分析与光电一体化设计.pdfVIP

维普资讯 第 30卷第 2期 光 电工程 Vo1．30，No．2 2003年 4月 Opto—Electronic Engineerin April，2003 文章编号：1003—501X (2003)02—0056—04 欠采样噪声分析与光 电一体化设计 迟学芬 。，韩 昌元 ，易志栋 。 (1．中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 ，吉林 长春 130021： 2．吉林大学通信工程学院，吉林 长春 130012) 摘 要 ：欠采样噪声产生分布于整个画面的附加像 ，给 目标识别等应用带来困难。基于信息理论， 建立 了欠采样噪声的应用分析模型，提 出了采样成像系统光 电一体化设计方法。通过仿真试验 ， 得 出欠采样噪声与光学成像 系统参数的关系。理论分析和仿真证明，根据 系统互信息量选择光、 电系统参数 ，可 以减小欠采样噪声 ，提 高图像质量 。 关键词：欠采样噪声；阵列探测器；空间频率响应 中图分类号：TP391．4l 文献标识码：A Undersamplednoiseanalysisandintegralelectro·opticaldesign CHIXue—fen ，HAN Chang—yuan ，YIZhi—dong~ (1．ChangchunInstituteofOptics，FineMechanicsand Physics，ChineseAcademyofSciences,Changchunl30021，China； 2．TelecommunicationEngineeringCollege，Jilin University，Changchunl30012，China) Abstract：Theundersamplednoise isgeneratedand distributed in additionalimageofaflame，thus bringsondifficultyforapplicationssuchasobjectrecognition．Anapplicationandanalysismodelofr undersamplednoise isestablishedon thebasisofinformation theory andan integralelectro—optical designmethodforsamplingimagingsystem isproposed．Therelationshipbetween theundersampled noiseand theparametersofan electro—opticalimaging system isobtainedhtrough simulation testing． The hteoreticalanalysis and simulation demonstrate that selection of electro—opticalparameters according to system mutualinfomr ation quantity can lowerundersamplednoiseand improve image quality． Keywords：Aliasingnoise；Detectorarray；Spatialrfequencyresponse 引 言 采样成像系统包含图像的捕捉 、处理 、传输 、再现 。现代图像捕捉系统通常包含光学成像系统和探测 器阵列 。图像捕捉系统中，有无法用系