基于故障AND／OR树的逻辑故障诊断分析.pdfVIP

维普资讯 第 18卷第 1期 青 岛 大 学 学 报 V01．18N0．1 2003年 3月 JOURNALOFQINGDAOUNIVERSITY Mar．2003 文章编号：1006．9798(2003)01—0030．05 基于故障AND／OR树的逻辑故障诊断分析 孙 杰 (青岛大学东部学区经管部，山东 青岛 266061) 摘要：当逻辑线路中存在故障时，在电路的输入端加一组 “输入码”，经过电路的 “加工”后，在 输出端可以观测到有关错误信息，经过匹配产生一组故障元件 “可疑集”，对于不同的故障 元件可疑集合进行 “交”运算，推断故障元件的位置。 关键词：故障AND／OR树；逻辑故障；可疑集；命题；硬件描述语言(VHDI) 中图分类号 ：TP306 ．3 文献标识码：A 电路中产生错误的原因称为故障，故障可分为逻辑故障或参数故障。逻辑故障使 电路元件或输入信号 的逻辑函数变为另外一种函数。根据文献[1]，可知其 中一种典型的逻辑故障是某 电路信号固定为恒定值。 如固定 1故障，简记为 S—a一1；固定 0故障，简记为 S—a一0。参数故障一般是 电路参数变化导致的，如 电 流、电压等的改变。 ‘ 1 基本思想 基于故障AND／OR树的逻辑故障推理诊断是在文献[1～3]的基础上，结合故障AND／OR树基本特点 提出的。其基本思想是，当逻辑线路 中存在故障时，在电路的输入端加一组 “输入码”，经过 电路的 “加工”后， 在输出端可以观测到有关错误信息，经过匹配产生一组故障元件 “可疑集”，且所有能够产生错误信息的元件 都包含在 “可 集”中，即保证了实际故障元件一定在 “可疑集”中。在分析过程 中，我们假设 电路中仅有一个 故障元件。 2 诊断步骤 2．1 诊断过程所需的信息 (1) 在输出端所观测到的错误类型。 (2) 产生该错误信息的输入码。 (3) 待诊断的故障电路的逻辑电路图(对此逻辑 电路图可用硬件描述语言(VHDI)加以描述，并存为 磁盘数据文件以备使用，具体实现过程请参见文献[2])。 2．2 诊断过程 第 1步 依据待诊断的故障电路的逻辑 电路 图产生相应的故障AND／OR树。 第2步 遍历故障树，产生可能的故障源信息的 “命题”。 第3步 将输出端所产生的错误信息以及相应的 “输入码”信息施加到第二步所产生的相应 “命题”之 上，得出可能的故障元件集；对于同一故障采用不同的 “输入码”以及错误输出信息，重复该过程。 第4步 对于不同的故障元件可疑集合进行 “交”运算，推断故障元件的位置。 其中，第 1、2步可在预处理阶段完成，逻辑 电路可用硬件描述语言加以描述，并生成一个数据文件，用故障转 收稿 日期：2002一ll—O4 作者简介 ：孙杰(1973一)，男．山东昌邑人．助讲，工学学士，1997年毕业于合肥工业大学计算机及其应用专业 ，现为西安交通大学计算 机应用专业在职硕士研究生 ．主要从事计算机教学工作。 维普资讯 第 1期 孙杰 ：基于故障AND／OR树的逻辑故障诊断分析 31 换程序扫描该数据文件，生成故障AND／OR树。另外，对于上面第2步产生的．命‘题”，只需在诊断过程中做 一 次，由于假设故障元件仅有一个，对于每次诊断来说，潜在的故障元件一定存在于故障元件可疑集合中，这 样相交这些集合，就可以进行故障定位。 3 故障AND／OR树 者 “Tl出故障”；或者 “Tt的第 1个输入值等于Va1． 3．1 故障模型 uel，或 Tl的第 2个输入值等于Value2”(Valuel、 故障模型可分为T型和 F型(见表 1)。