X射线荧光光谱在晶体材料组成分析中的应用.pdfVIP

维普资讯 第 18卷 第 1期 无 机 材 料 学 报 Vo1．18，No．1 2003年 1月 JournalofInorganicM aterials Jan．，2003 文章编号：1000—324X(2003)01—0019—08 x射线荧光光谱在 晶体材料组成分析 中的应用 卓 尚军，陶光仪，吉 昂，盛 成，申如香 (中国科 学院上海硅酸盐研究所，上海 200050) 摘 要 ：介绍 了x射线荧光光谱在人工晶体材料组成分析 中的应用．虽然 x射线荧光光谱分 析是一种非常有效的元素分析手段 ，但必须针对不同的样品和分析要求采用合适 的样 品制备方 法，选择或配制合适 的校正标样对基体效应进行校正 ．在样品为单 晶时异常反射对光谱 的定性 解释和定量分析 的条件选择可能产生影响，此时最好使用熔融制样法．使用测量结果时，应该 充分考虑其不确定度 ． 关 键 词 ：x射线荧光光谱 ；晶体 ；定量分析 ；测量