XRD法快速测定铝电解质中的锂含量.docVIP

帕纳科第十一届中国用户X 射线分析仪器技术交流会”论文投稿 XRD法快速测定铝电解质中锂含量 李建智 陕县恒康铝业有限公司 三门峡 472100 摘要：此方法已经成功的用于日常分析，由于新方法的测量时间比化学法缩短了2160倍，用10秒钟代替了6小时。而且新方法测量的重现性优于化学法，新方法提供的数据及时监控生产工艺。为节能减排做出了重大贡献。 关键词：X射线衍射技术， 铝电解质，氟化锂分析， 定量相分析 氟化锂在电解质中可以降低电解质的初晶温度，增加其导电性（1，2），自1888年霍尔提出铝电解工艺时，就将电解质中加入锂作为一项专利，这些年来，人们为了降低电解质的初晶温度，为了节能减排经常化高价购买锂盐加入到电解质中，由于锂盐成本太高，所以近年来很少再有人加入锂盐。 但是在铝电解过程中，由于有些氧化铝原料中含有较高的锂，日积月累，电解槽里富集了一部分氟化锂，使电解质成分发生了变化，而一些冶炼者并不知道这些情况，仍旧按照以前的电解工艺生产，而这时由于氟化锂在电解质中含量逐渐增加，造成衍射仪测出的分子比值明显升高。数据证实：电解质中，氟化锂含量低于1%时衍射仪分析值与化学法分析值接近，当含量大于1%以上时，衍射仪的测量值与化学值相差比较非常大，这是由于化学法给出的分子比值是氟化钠与氟化铝之比，没有考虑到呈碱性的氟化锂所至。 值得提出的是，此时电解槽运行正常，槽温低，初晶温度低，这些电解槽的运行情况与衍射仪分析值不相符，反而与化学值接近，又知道：当含有大量氟化锂时，化学值不准确，因此迫切需要用一个手段解释并解决这一问题。 1． 测定铝电解质中氟化锂浓度的方法 电解质中氟化锂含量的测定极为重要，但是测量又非常困难，这是因为： 1-1 化学法：试样以高氯酸分解，用盐酸溶解盐类，用空气-丙烷火焰，在火焰光度计670.8nm处测量锂的发射光谱强度，计算氟化锂的质量分数。当然还可以采用原子吸收的方法，这些方法分析的时间太长，而且重现性也不好。 2-2 X射线衍射法：（本文将介绍此方法） 2. 新方法-X射线衍射法测定铝电解质中氟化锂含量 新方法是通过测量铝电解质中各种氟化锂的不同化合物的含量，再计算出氟化锂的总量。X射线衍射法所以迟迟未能用到铝电解质分析，是因为在铝电解质中，因电解质成分不同，电解质的酸碱度不同，则氟化锂在电解质中存在的化合物的物相形态不同，因此分析程序也就各自不同，采用常规的方法无法测量氟化锂含量。 氟化锂在电解质中存在着不同的物相，他们是Li3AlF6、LiAlF4、K2LiAlF6、LiCaAlF6、LiF、LiNa2F6、Li2NaF6等，由于上述原因，给X射线衍射法测定氟化锂含量造成了很多困难。 作者通过大量不同氟化锂含量及酸碱度不同的样品，探究了各种状态下的物相组成，并借鉴了X射线衍射定量相分析技术（3-5）及微量粉晶最新的收集技术,完成了铝电解质中氟化锂含量的测定（6）。 3．新方法的测试结果、精确度及准确度讨论 为了验证新方法的精确度、准确度以及该方法与化学法分析数据的比较，我们做了下述试验： 3-1 精确度试验； 为了证实新方法的分析精确度，做了下述两组实验，一组是制备好的样品重复测量十次，观察其数据的变化( 见表1 )，第二组实验是对于同一个样品，分别制备样品，共制备十次，分别测量每次制备的样品的含量，观察其数据的变化（ 见表2 ）。 表1：制备好的样品重复测量十次 Table 1: Repeat measurement ten time for prepared sample 次数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 平均值 差值 数值 3.60 3.60 3.60 3.64 3.56 3.60 3.56 3.56 3.60 3.56 3.59 0.04 表2：样品重复制备后被分别测量 Table 2: Have been measured for repeat preparing sample 次数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 平均值 差值 数值 3.64 3.78 3.91 3.89 3.70 3.89 3.90 3.69 3.89 3.83 3.81 0.27 表1及表2的数据表述了新方法分析数据的重现性，无论是一个样品的多次测量（十次）还是每个样品重复制备（ 检查择优取向及颗粒效应的干扰 ），其重现性都非常好，差值小于0.3% ，其重现性优于化学法，完全可以满足日常分析的要求。 检查新方法的重现性、准确性的唯一标准，是以化学法分析的数据作为标准，我们知道，化学法本身存在着很多不足，不仅仅是分析时间太长（ 当然，这是它的最大不足 ）， 而且由于样品的颗粒大小、乙酸清洗残渣