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第37卷第3期 信 息 化 研 究 VoI．37No．3 2011年6月 Informatization Research Jun．2011 数值研究负折射率超透镜近场亚波长成像 李琳菲 ，秦卫平。 (1．南京邮电大学电子科学与工程学院，南京，210003； 2．南京邮电大学理学院，南京，210003) 摘 要：文章采用时域有限差分法研究负折射率平板超透镜的电磁聚焦现象，计算近场成像特 性；计算结果给出负折射率平板透镜近场成像的波场分布，双波源的成像分辨率为四分之一波长，达 到亚波长分辨效果。计算结果表明，负折射率超透镜近场亚衍射成像只在一定的参数条件下成立。 关键词：左手材料；超透镜；负折射；近场成像；时域有限差分法 中图分类号：TN247 0 引 言 率低于衍射极限。随后，各种结构的基于左手负折射 率电磁材料的完美透镜在微波频段和光频段被制作 传统光学透镜成像系统的分辨力极限为透镜工 出来 ，同时观察到了倏逝波增强效应。文献[6—10] 作波长的一半，这是由于反映物体精细结构高频分量 分别报道了采用负折射率超透镜技术实现亚波长近 的倏逝波在远场区快速衰减 ，从而丢失信息的高频分 场成像，成像分辨率最高达到2／10。 量而引起的。为克服这一 困难 ，1928年 ，辛格 (H． 以上的结果都是实验结果，在设计成像系统时， Synge)提出小孔近场扫描光学显微镜 near—fieldscan— 理论分析是设计的基础。本文采用时域有限差分法 ningopticalmicroscopy，NSOM)的概念。1972年，阿森 直接求解麦克斯韦方程组，计算研究了负折射率平板 (E．Ash)实验上实现了辛格的设想 ，完成了微波频段 超透镜系统近场成像特性，首先理论计算文献 1【】给出 近场扫描成像，获得了分辨率达 ，l／10的二维微波图 的实验结果 ，验证了计算的正确性。然后对各种参 象。1984年，D．Pohl等人研制成功了第一台光频段近 数进行了优化设计，讨论了系统中板厚、介电常数数 场扫描显微镜。虽然扫描近场光学显微镜已经能够 值等参数对成像质量的影响，设计的超透镜成像分 实现超分辨成像 ，但它是逐点扫描采集物体的信息， 辨率达到2／10，为进一步改进设计成像系统提供理 不能象传统光学透镜那样，一次完成实时成像。 论依据[6-101。 1968年，Veselago首次从理论上提出和探讨了介 电常数8和磁导率 同时为负值的物质的电磁性质，当 1 数值解法——时域有限差分法 电磁波在这种物质材料中传播时，电场强度E、磁场强 在左手材料中电磁波的传输方程遵循ZiolkOWSki 度 与波矢量k三者方向遵守左手螺旋定则 ，并预言