X射线荧光分析法测定合金中镍(Ni)与铬(Cr)-1.pdfVIP

第 30卷 增 冶 金 分 析 Vol。30, supplement Metallurgical Ana1ys【 ⒛10年 9月 s september,2010 文章编号 :1000-7571(2010)增 -0381-04 X射线荧光分析法测定合金 中的 № 和 Cr 韩春梅 ,于 晟 ,周冠男 ,张 颖 (天津钢管集 团股份有限公司,天津 300301〉 摘 要 :本文论 述 了 X荧 光 光谱 测 定 高镍 合全 中 Ni和Cr的分析 方法 ,用 理论 α系数校 正基 体 效 应 和谱 线 干扰 系数 L校 正谱 线 重 叠影 响 。方法准确度和精 密度令人 满意 ,操 作 十分 简 便 、 速 。 快 关键 词 :X荧光 光谱 法 ;不锈钢 ;分析 中囡分类号 :o675,34 文献标识码 :A X射线荧光分析是当今 国内外在冶金分析 中 式 中,Is为Wi=100%时,该 元 素 的荧 光 X 均普遍采用的一种仪器分析方法 ,具有制样方法 射线 的强度 。根据上式 ,可 以采用标准 曲线法 ,增 简单 ,分析含量范 围宽,准确度高 ,分析速度较快 量法 ,内 标法等进行定 量分析 。但 是这些方法都 E川 。目 国 及 金 测主要采用直 要 标准样 品的组成与试 的组成尽可能相 同或 等优点 前 内钢铁 合 检 使 样 读光谱分析和气体分析[2□ ,直读光谱仪对大多数 相似 ,否则试样 的基体效应或共存元素 的影 响 ,会 元素而言,取样量少 ,绝对灵敏度高,分析速度块 , 给测定结果造成很大 的偏差 。所谓基体效应是指 得 以广泛应用 。但 它终究是一种相对分析方法, 样 品的基本化学组成和物理化学状态 的变化对 X 特别是对于高含量 的重元素的光谱定量分析不及 射线荧光强度所造成 的影 响 。化 学组成 的变化 , X射线荧光分析或者化学分析准确 ,测 量精度也 会影 响样 品对一次 X射线和 X射线荧光 的吸收 , E3^凵 E11^12彐 。 理 α 也 改变 光 强 应 。 ,在 测 不 相对低 通过采用基本参数法和 论 系数 会 荧 增 效 例如 定 锈 ,测 Ni和Cr元 ,线 Fe和Ni等 ,由 一 X射 法进行定量分析 定合金 中的 素 钢 中 元素时 于 次 线 的激发 性 ,镍 量达 90%以 上 ,目 无相关 生 NⅨ α X射 ,NⅨ α 品 可 范围宽 含 到 前 分 会产 荧光 线 在样 中 能被 Fe吸 ,使 Fe激 FeKα Ni时 析研究报道 。 收 发产生 ,测 定 ,因 为 Fe的 Fe时 1 实验部分