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基于蚁群算法的测试集优化.pdf

第 期 电 子 学 报 8 VoI . 31 No . 8 年 月 2003 8 ACTA ELECTRONICA SINICA Aug . 2003 基于蚁群算法的测试集优化 俞龙江,彭喜源,彭 宇 (哈尔滨工业大学自动化测试与控制系,黑龙江哈尔滨 150001) 摘 要: 电路集成度和复杂度的不断增加使电路故障诊断变得愈加困难 其中,测试集优化问题是电路故障诊 . 断的关键问题之一 本文以新颖的蚁群算法为基础,较好地解决了测试集的优化问题,并通过实验证明了该算法的良 . 好性能. 关键词: 蚁群算法;测试集优化;故障诊断 中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) TN919 A 0372-2112 2003 08-1178-04 A Test Set Optimization Method Based on Ant Algorithm , , YU Long-jiang PENG Xi-yuan PENG Yu ( , , , , ) Dept of Automatic Test and Control Harbin Institute of Technology Harbin Heilongj iang 150001 China Abstract : The increase of digitaI circuit integrity and compIexity has made fauIt diagnosis of circuits more and more difficuIt . The scaIe of test set has become Very Iarge because of redundancy, which costs Iots of time and memory unnecessariIy . It is important , , to acguire optimaI test set for test appIication . Test set optimization which can eIiminate the redundancy is one of key probIems in fauIt diagnosis of digitaI circuits . Ant coIony op

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