线性系统根轨迹分析.docVIP

实 验 报 告 实验名称 线性系统的根轨迹分析 系 自动化 专业 自动化 班 姓名 学号 授课老师 预定时间 实验时间 实验台号 目的要求 1. 根据对象的开环传函，做出根轨迹图。 2．掌握用根轨迹法分析系统的稳定性。 3．通过实际实验，来验证根轨迹方法。 原理简述 1．实验对象的结构框图如图2.1-1 所示 2．绘制根轨迹 (1) 由开环传递函数分母多项式S(S+1)(0.5S+1)中最高阶次n＝3，故根轨迹分支数为3。 开环有三个极点：p1＝0，p2＝－1，p3＝－2。 (2) 实轴上的根轨迹： ① 起始于0、－1、－2，其中－2 终止于无穷远处。 ②起始于0 和－1 的两条根轨迹在实轴上相遇后分离，分离点为: 显然S2 不在根轨迹上，所以S1 为系统的分离点，将S1＝－0.422 代入特征方程 S(S+1)(0.5S+1)＋K 中，得K＝0.193 (3) 根轨迹与虚轴的交点 将S = j W 代入特征方程可得：。 根据以上计算，将这些数值标注在S 平面上，并连成光滑的粗实线，如下图所示。 上的粗实线就称为该系统的根轨迹。其箭头表示随着K 值的增加，根轨迹的变化趋势，而标注的数值则代表与特征根位臵相应的开环增益K 的数值。 3．根据根轨迹图分析系统的稳定性 根据根轨迹图，当开环增益K 由零变化到无穷大时，可以获得系统的下述性能： R＝500/K 当K＝3；即R＝166 KΩ 时，闭环极点有一对在虚轴上的根，系统等幅振荡，临界稳定。 (2) 当K 3；即R 166 KΩ 时，两条根轨迹进入S右半平面，系统不稳定。 (3) 当0 K 3；即R 166 KΩ时，两条根轨迹进入S左半平面，系统稳定。 上述分析表明，根轨迹与系统性能之间有密切的联系。利用根轨迹不仅能够分析闭环系统的动态性能以及参数变化对系统动态性能的影响，而且还可以根据对系统暂态特性的要求确定可变参数和调整开环零、极点位臵以及改变它们的个数。这就是说，根轨迹法可用来解决线性系统的分析和综合问题。由于它是一种图解求根的方法，比较直观，避免了求解高阶系统特征根的麻烦，所以，根轨迹在工程实践中获得了广泛的应用。 仪器设备 PC 机一台，TD-ACC+(或TD-ACS)教学实验系统一套。 线路示图 模拟电路图的构成： 系统的开环增益为K＝500KΩ/R，开环传递函数为： 内容步骤 1．绘制根轨迹图：实验前根据对象传函画出对象的根轨迹图，对其稳定性及暂态性能做出理论上的判断。并确定各种状态下系统开环增益K的取值及相应的电阻值R。 2．将信号源单元的“ST”端 插针与“S”端插针用“短路块”短接。由于每个运放单元均设臵了锁零场效应管，所以运放具有锁零功能。将开关设在“方波”档，分别调节调幅和调频电位器，使得“OUT”端输出的方波幅值为1V，周期为10s左右。 注意：实验过程中，由于“ST”端和“S”端短接，运放具有锁零功能。而该对象的响应时间较长，看不全整个响应过程，此时只需在响应过程中将信号源中的“ST”端和“S”端之间的短路块拔掉即可。 3．按模拟电路图接线，并且要求对系统每个环节进行整定，详见附录一；将2中的方波信号加至输入端。 4．改变对象的开环增益，即改变电阻R的值，用示波器的“CH1”和“CH2”表笔分别测量输入端和输出端，观察对象的时域响应曲线，应该和理论分析吻合。 注意：此次实验中对象须严格整定，否则可能会导致和理论值相差较大。 六、数据处理 （1）当R=156.1kΩ时，系统等幅振荡： 当R=105kΩ时，两条根轨迹进入S右平面，波形处于发散状态，系统不稳定： 当R=279kΩ时，两条根轨迹进入S左半平面，波形处于衰减状态，系统稳定： 分析讨论 如何通过改造根轨迹来改善系统的品质？ 在控制系统中，我们常用附加适当的开环零点的方法来改善系统的性能。 附加适当的开环零点可以改善系统的稳定性。 2．附加开环零点的目的，除了改善系统稳定性之外，还可以改善系统的动态性能。 3、结论：? ????给系统添加开环极点会使系统的阶次升高，若添加的合理，会使系统的稳态误差减小，同时若添加的不合理，反倒会使系统不稳定；给系统添加开环零点，可使原来不稳定的系统变成稳定的系统 装 订 线 装 订 线 4 5 装 订 线 1