能量色散型X射线荧光光谱仪分析条件的选择方法.pdfVIP

能量色散型 x射线荧光光谱仪分析条件的选择方法 雒量色散型X射线荧光光谱仪 分析条件晌选择方法 黄 敏 (中国兵器212业集团公司第 845厂) 摘 要：就当前较为普遍使用的能量色散型x射线荧光光谱仪仪器分析条件的选择和分析 进行 阐述 ，通过对仪器元件操作条件的分析和选择 ，为更好操作使用能量色散型 x射线荧光光 谱仪提供 了参考和分析基础。 荚键词：X射线 能量 色散 荧光光谱仪 分析条件 选择方法 X射线发射光谱法可以根据色散方式进一步分成 标准 )，激发其中每个化学元素，不同元素的原子 波长色散和能量色散法，以测量X射线谱线为根据 受到激发后，放射出各 自特征的二次谱线，以其不 的任何化学分析方法中，必须采取一些能够单独测量 同元素的波长为该元素的特征(定性分析的基础)， 各个元素谱线的措施。要达到这个 目的，分别激发各 其不同元素波长处的谱峰强度与该元素浓度有关 个元素或同时激发所有元素；采取某些措施使每个元 (定量分析基础 )。这种二次谱线在探测以前，首 素的谱线分开，从而能够分别进行测量。绝大多数 X 先通过晶体衍射进行光谱线的空间能量色散。这就 射线光谱仪都采用后一种途径。这类光谱仪都是根据 是能量色散X射线荧光光谱分析原理。 通常所采用的两种方法分离各条谱线，可以方便地分 二 仪器分析条件选择方法 成两类，即波长色散和能量色散光谱仪。 能量色散型X射线荧光光谱仪在使用过程中， 在能量色散型光谱仪中，由样品发射出的若干 常遇到的问题是仪器分析条件的选择和试验分析， 条 X射线光谱线，在进入探测器之前，可按其波 分析工作者需要研究和分析选择仪器分析条件，下 长通过晶体衍射进行空间色散，因此，探测器一次 面以WISDOM--9000型X荧光光谱仪为例分别加 只接受一种波长。这种方法在当前分析领域较为普 以说明。 遍。能量色散型X射线荧光光谱仪分析条件的选 WISDOM一9000型X荧光光谱仪，主要考虑 择一直是分析工作者的一个难题，本文就能量色散 的仪器元件和操作条件有以下几种： 型X射线荧光光谱仪分析条件选择和分析进行了 样品蔽光面积；样品的运动状态；X射线管靶； 理论探讨 。 初级射线滤光片；X射线管电压；X射线管电流； 一 能量色散型X射线荧光光谱分析原理 准直器；分光晶体；光路介质；探测器；延迟时间； 能量色散型X射线二次发射光谱法，或X射 脉冲高度 自动选择等。 线荧光光谱法 (EDXRF)，是一种非破坏性的仪器 WISDOM一9000型X荧光光谱仪所提供的软 分析方法。它是根据化学元素二次激发所发射的 件已具有智能性功能，当选定要测哪几个元素时， X射线谱线的波长和强度测量进行定性和定量分析 能自动给出相应的分析条件，然而在使用时必须依 的。用来 自X射线管的初级线照射样品 (试样或 据具体试样和分析要求对所列条件进行优化处理， 20 2015年1月 国防技术基础 第1期 方可获得理想的结果。有关X射线管、原级谱滤 (5)lmm的铅挡光板，只起到保护光管不让 光片、样杯面罩、准直器、分光晶体和探测器的基 灰尘进入的作用。 本原理和适用范围，应根据具体样品及分析要求， 使用滤光片可以除去靶线或降低分析线强度 。 选择最佳的分析操作条件 。 但对于被检测元素含量较低时，会损失谱线强度计 1．样品蔽光面积 数率，影响检出限和分析精密度。 为了确保仪器仅仅检测来 自样品的X射线荧 5．x射线管电压 光，避免检测到来 自样品杯的X射线，一般有两