基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试生成.pdfVIP

第27卷第7期 电子与信息学报 、，01．27No．7 2005年7月 JoumalofElec们nicsInf．omation Jul．2005 Technology 基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试生成 许川佩“+ 李智’ 莫玮+ ‘(桂林电子工业学院电子工程系桂林541004) “(西安电子科技大学机电工程学院西安710071) 摘要： 为提高时序电路的测试生成效率，该文提出一种新的基于蚂蚁算法和遗传算法的时序电路测试矢量生成 算法。针对国际标准时序电路的实验结果表明，该交叉算法既充分发挥了两种算法的优点，又克服了各自的缺点， 与其它同类测试生成算法相比，获得了较好的故障覆盖率和测试集。说明采用蚂蚁算法和遗传算法的交叉算法是成 功的。 关键词： 时序电路， 测试生成， 蚂蚁算法， 遗传算法 中图分类号：TN407 文献标识码：A 文章编号：1009．5896(2005)07．1157．05 1’estGenerationof uentialCircuitsBasedon Seq Ant andGenetic Algorithm Algorithm XuChuarI．Dei“’LiZhi‘ MoWei+ ’(D叩t矿Ekc加聆fc勋咖卯，f豫G“f砌沏舰坶砂矿E昆c肋玎fc死曲D魄彤G“胁541004，劭加口) 71007 ”(^DD，0厂胞c^口玎。垣塘c加玎fcE馏f一鲫豫前妣玎跏fv哪魄m，口n1，∞f嘲 AbstractThis anewtest basedon柚t alld for p印erpresents pattemgenerationtecllIlique algorit}I】mgeneticalgorimm theteSt for resultsforthe benchmarkcircuits improvinggenerationemciencysequemialcircuits．Experimen诅lsequential showthatthe not takesfull of bom alsooVercomestheir hybrid印proachonly adv锄geutilizingalgoritllms，but test canachieve fault andmore testsetswhen tootllersimilar disadvantages．IthighercoVerages compact compared combined isasucceSsml generationalgorithms，demonstrating廿1eal酬mm algoritll王11． words circuit，Test Key Sequential generation，Amalgorimm，Geneticalgorithm l 引言 题，因此仅适于处理小规模电路。例如确定性算法测试生成