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电子迁移对钇稳定氧化锆电解质性能的影响.pdfVIP

电子迁移对钇稳定氧化锆电解质性能的影响.pdf

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石油、天然气工业

2009年6月 材 料 开 发 与 应 用 ·23 · 文章编号:1003—1545(2009)03-0023-04 电子迁移对钇稳定氧化锆电解质性能的影响 鲁盛会 ,向蓝翔 ,周欣燕’,陈宗璋 ,李素芳 ,沙顺萍 (1.中国原子能科学研究院,北京 102413;2.湖南大学化学化q-学院,长沙 410082) 摘 要:本文讨论了在不同测氧分压、温度、相对密度及引入AIO,下,电子迁移对钇稳定氧化锆电解质性能 的影响。结果表明:氧化锆氧浓差电池测量的氧分压越低,电子迁移对池电势的影响越大;电池的工作温度越 低,电子迁移数越大,测量误差越大;烧结越致密的电解质其电子迁移数越小;适量的引入Al2O 可以降低电 子迁移数,提高测氧准确性。 关键词:氧化锆;电子迁移;氧传感器 中图分类号:TQ174 文献标识码:A 在高温下,钇稳定氧化锆 (YSZ)固体 电解质 是一类氧离子传导占绝对优势的离子导体,同时 1 YSZ敏感元件和实验装置的制备 存在着电子迁移,当电子迁移数较高时,将影响 YSZ电解质制备的氧传感器的测量准确性 。 1.1 YSZ敏感元件的制备 YSZ基浓差电池型氧传感器在工作时是利用能 采用化学共沉淀工艺制备8mo1%Y0 稳定 D p ZrO2(YSZ)粉料,用LDJ200/1000—300型冷等静 斯特方程:E=: ·In 1(E为电池产生的理论 ’ r /-2 压机将粉料压制成型为 (bl6innl×2mm圆片状 电势,为气体常数,为电解质温度,F为法拉 氧化锆素坯,然后用SX2—16B型高温硅钼炉分 第常数,P,和P:分别为参比氧分压和测量氧分 别在 l30ooc、1370~C、1440℃、1510℃、1580oC下 压)来测量未知氧分压的。而该方程的成立条件 烧制成相对密度不同的氧化错敏感元件,用氯铂 之一是假定固体电解质中的氧离子迁移数t=1 酸法在元件的两圆面上涂制多孔铂作为正负电 (即电子迁移数t=0),即在测量氧分压时,希望 极。仍采用化学共沉淀法制备含A10,的YSZ 氧离子是完全的载流子,自由电子和电子空穴可 固体电解质,同上,压制、烧结制备成敏感元件。 以忽略不计。但是,实际上固体电解质内电子迁 1.2 实验装置的设计 移的存在对池电势有着直接的影响,电子迁移数 将制备的敏感元件安放在 自制可调温的电 越大,YSZ氧传感器的测量误差亦越大。只有当 炉中,且氧化锆敏感元件两面间气密性 良好。如 电子迁移数很小时(如小于 1.O%时口),测量氧 图l所示。 分压才趋近于实际氧分压。而在许多实际应用 中,它对测量结果的影响是不能忽略的。为了避 免和修正电子迁移对池电势的影响,必须了解电 P 一 子迁移在不同的工作环境下是如何影响池电势 的,以及电子迁移在实际应用条件变化时的规 律。本文通过改变浓差电池两边的烧结致密化 程度、氧分压、温度和原料的掺杂等来讨论电子 图1 电子迁移数测量装置示意图 迁移对YSZ电解质性能的具体影响。 1石英管;2YSZ固体电解质;3数控咖热炉;4热电偶 收稿 日期:2008—12—18 基金项 目:鲁盛会,1980年生,男,河南洛阳人。研究方向:材料电化学。 · 24 · 材 料 开 发 与 应 用 2009年6月 将不

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