数字集成电路可测性分析的一种软件实现.pdfVIP

电子测量与仪器学报 2004年增刊 数字集成电路可测性分析的一种软件实现 李景平陈光辛禹谢永乐 (Eg子科技大学自动化工程学院成都610054) 摘要：可测性分析用于指导数字系统的计算机辅助测试与设计。本文用面向对象程序设计语言构造描述 集成电路的数据结构，论文详细介绍了数字电路的描述方法，给出了可测性分析算法，并将有向图的拓扑排 序引入可测性分析程序设计，提高了可测性分析的计算速度。理论分析和试验结果表明，用改进后的算法计 算可控性可观性是行之有效的。 关键字：可测性分析拓扑排序面向对象集成电路 XieYongle LiJingpingChenGuangJu ofElectronicScienceand ofChina 610054) (University TechnologyChengDu is to andthetestof this Abstract：Testabilityanalysisappliedcomputer-aideddesign digitalsystems．Inpaper,the datastructurewhichisusedtodescribethe of circuitisconstructedvirtueof topologyintegrated by of is andthe method circuit isgiven programming description digital analysis language，the presented，testability sortof to a of isintroduced of result,calculationspeed topologicalgraphics programdesigntestabilityanalysis．As is and indicatethatthecalculationof testabilityanalysisimproved．Theoreticalanalysisexperiments and inthis iseffective． observabilityalgorithm using paper analysis，topological circuit． Keywords：Testability sort，object-oriented，integrated 1引言 使芯片的集成度越来越高，而供外部测试的引脚却很少，测试问题日趋困难，甚至使芯片测试 比芯片本身的设计和生产要付出更高的代价。 在实际电路中并非一切故障都是可测的，特别是冗余电路中的某些故障一般是不可测的。 有些电路虽然可测，但由于测试所需的工作量大得惊人，以致实际上无法完成测试。因此90 For 年代初国外提出了可测性设计(Design 试问题，即把降低测试难度的要求纳入设计规范，并通过测试分析来