星型边界扫描拓扑de测试方法研究.pdfVIP

与 ||| 第己口l1年5月 ]口卷 第 5期 阙 星型边界扫描拓扑的测试方法研究* 黄文君 雷 加 (桂林 电子科技大学电子工程与 自动化学院 桂林 541004) 摘 要：针对在串行边界扫描拓扑中不能对测试存取端 口控制器直接寻址而导致测试速率降低的问题，IEEE1149．7标准提 出了可直接寻址的星型拓扑测试方法。以该标准为依据，利用 QuartusII软件设计了在测试系统中具有关键作用的边界扫描 测试控制器 ，介绍了星型拓扑结构的测试原理与测试流程、控制器的结构与作用。仿真结果表明控制器能够产生符合标准的 测试信号，具有 良好的可行性与有效性，对测试系统的构建具有积极的意义。 关键词：边界扫描；星型扫描拓扑；串行等价扫描 中图分类号：TN407 文献标识码：A Researchontestmethodofstarboundaryscan topology HuangWenjun LeiJia (SchoolofElectronicEngineeringandautomation，GuilinUniversityofElectronicTechnology，Guilin541004，China) Abstract：Asseriesboundaryscantopologycannotaddressthetestaccessportcontroller，whichlcadstolow testrate， IEEE1149．7providesasolutionofstartopology．Basedonthestandard，QuartusⅡisusedtOcompleteboundaryscan testcontrollerthatplaysanimportantroleintestsystem．Testprincipleandprocess，aswellastestcontrollersstructure andfunctionsaregiven．Emulationresultprovesthattestcontrollercangeneratetestsignalswhichcanmeettheprinciple requirements．ItiSavailableandeffective，anditmaksacontributiononthetestsystem． Keywords：boundaryscan；starscantopology；seriesequivalentscan 型结构是可以提高工作效率的。与此同时，在电路板级互 0 引 言 联测试中星型扫描与串行扫描具有等价作用E。 边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方 1 星型边界扫描拓扑测试 法，它通过位于器件管脚与内核电路之间的边界扫描单元 对器件及外围电路进行测试，从而提高了器件的可控性以 1．1 测试原理 及系统的测试效率 。IEEE1149．1标准规定，在被测系统 在串行扫描拓扑中，TAPC的位置是有前后之分的， 中具有边界扫描测试结构的各个芯片通过测试数据输入 与TDI靠近的TAPC处于扫描链的前端，与TDO靠近的 TDI端 口与测试数据输出TDO端 口依次连接从而形成一 TAPC处于扫描链 的后端 ，测试系统 DTS根据各个 条串行扫描链，在测试存取端 口控制器 TAPC的控制下， TAPC的具体位置加载相应的指令或数据。在星型扫描 扫描链路传输测试 向量和响应向量 。在串行扫描拓扑中， 拓扑中，串行扫描拓扑的寻址能力消失了，因为各个 是不能对某个 TAPC直接进行数据存取的，因为数据还 TAPC的