萃取分离ICP-AES法测定高纯金中的杂质元素.pdfVIP

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萃取分离ICP-AES法测定高纯金中的杂质元素.pdf

第 卷,第 期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 , , 2 1 6 VOI . 2 1 NO . 6 pp849 - 85 1 年 月 SpectrOscOpy and SpectraI AnaIysis , 2 0 0 1 1 2 December 2001 !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 萃取分离ICP-AES 法测定高纯金中的杂质元素 孙丹丹,曹昕宇 (北京大学化学与分子工程学院,北京 100871) 摘 要 通过用有机溶剂甲基异丁基酮( )在 的盐酸溶液中萃取高纯金( )中的基体元素,使 MIBK 10 % 99 .99 % 得大量的金得以分离,消除了基体的存在对杂质元素测定的干扰,使微量的杂质元素的测定成为可能,进而用 等离子体发射光谱仪测定了高纯金中 , , , , , , , 等元素的含量。 Cd Cr Cu Fe Mn Ni Pb Pt 主题词 ; 萃取;杂质元素;高纯金 ICP-AES MIBK 中图分类号: 文献标识码: 文章编号: ( ) 0657 .31 A 1000-0593 2001 06-0849-03 - 1 由于大量的基体元素金的存在对杂质元素测定的干扰和 功率 ,氩等离子气: · ,氩辅助气: 1. 1 kW 18 .0 L min 0 .5 L - 1 - 1 抑制作用,以及高盐样品直接进样导致进样系统堵塞和金的 · ,雾化气压力: ,溶液提升量: · 。扫描 min 50psi 1.0 mL min 记忆效应等诸多问题,使得用电感耦合等离子体原子发射光 时间 ,每次测量积分 次。分析线波长为: ,

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