高直流电场下PET薄膜的电致发光及其可靠性.pdfVIP

第29卷第1期 发 光 学 报 VoL29 No．1 2008年02月 CHINESE OFLUMINESCENCEFeb．，2008 JoURNAL 文章编号：1000-7032{2008)01-0056-05 高直流电场下PET薄膜的电致发光及其可靠性 林家齐，杨文龙，王 玮，雷清泉 (哈尔滨理工大学，黑龙江哈尔滨1500so) [pdy(ethylene 4．00 m．400-460nm、500—600 MV／cm附近发生预击穿。EL光谱在300-400 nm和680nm附近存在发射 峰，其中500—600nm峰带相对较强，预击穿信号出现后680nm附近的峰带增加很快。为了评价PET的介电 性能，本文对实验数据用双参数Weibull分布解析法计算，得出了该薄膜在(24±1)℃，阶跃加压条件下的寿 命和击穿电场的累积失效概率和可靠度方程，Weibull假设检验结果表明，实验结果服从Weibull分布。 关键词：聚对苯二甲酸乙二酯；电致发光；Weibull分布；可靠性 3 中图分类号：TN383．1；TN873tPACC：7860F文献标识码：A 验数据用双参数Weibull分布解析法计算，并进 1 引 言 行了假设检验。 聚合物以其优越的物理和化学性能作为绝缘 2 实 验 介质有着广泛的应用。但其中包含杂质、结构和 化学缺陷、晶态和无定形态单元间的界面，材料在 2．1样品 电应力作用下，杂质可能引起电离，界面可能引起 实验采用样品为美国杜邦公司生产的23斗m 极化，结构和化学缺陷将成为陷阱，这些都直接影 厚的聚对苯二甲酸乙二酯(PET)薄膜。 响到绝缘聚合物的短期和长期的运行…。 2．2测量装置 绝缘聚合物的电老化和击穿与空间电荷有密 实验采用自制的电致发光测量装置，见参考 切关系【lt2]。当外电场增加到某一数值时，材料文献[3]。测量装置空载时，光子计数器暗噪声 内部带电粒子急剧增加，可以在空间电荷区域形 均值为16cps(测试温度20℃)，光子计数器的灵 成强电场导电。这种现象与可见光光子的激发联 敏度为2．3×10。17w；装置的灵敏度为3．0× 10。17 nm。 系起来，静电能损耗的一部分通过电致发光(EL) w，分辨率为4nm，重复误差不大于2 4- 辐射出去，当聚合物释放的能量达到一个确定的 实验电源采用高压直流电源；实验温度为(24 界限时，将导致材料结构的老化，EL是预击穿的 1)℃；样品室工作真空度为10—Pa。 一个信号，为研究材料结构老化的机理提供了一 2．3实验步骤 个很好的证据。它对详细解释电老化的开始和研 1．对样品先后用蒸馏水和丙酮清洗，进行烘 究耗散机制都有意义，也能为监控老化率提供 干，利用HSJD-500磁控镀膜机在薄膜两侧都镀上 基础‘1l。 一层30nm左右的半透明金膜作电极。 聚对苯二甲酸乙二酯(PET)是对苯二甲酸与 2．EL统计 乙二醇的缩聚物，它以其优异的韧