gsm可靠性试验计划.xls

MT58可靠性试验计划 测试项目 测试人员 开始时间 完成时间 射频测试(常温) 高温储存 高温运行 低温储存 低温运行 温度冲击 跌落测试 备注 1.2m开机/0.8m不开机 测试温度 +55℃ 运行时间 2小时 手机供电 高压4.2V 试验过程 检查 外观 手机结构件应无变形 功能 达到产品技术规范规定功能，允许屏幕显示速度放慢，但工作正常 射频指标 满足有关标准要求 手机(运行状态)置于高低温试验箱内，调节箱内温度为25℃湿度65%保温1小时后,在1小时内升温至+55℃下保温2小时后立即进行外观、电性能测试（手机由外接稳压电源供电）。 试验温度 +65℃ 保温时间 24小时 包装条件 不包装 手机表面（主要是LCD）无污点，结构件应无变形 达到产品技术规范规定功能 手机不开机置于高低温试验箱内，调节箱内温度为25℃,湿度65%保温1小时后,在1小时内升温至+65℃，保温24小时后,降温1小时至常温，4小时后对手机进行外观、电性能测试 -30℃ 手机不开机，置于高低温试验箱内，调节箱内温度为25℃湿度65%保温1小时后，在1小时内降温至-30℃，湿度关闭，保温24小时后,升温1小时后至常温，4小时后对手机进行外观、电性能测试 。见图表5 -10℃ 低压3.4V 手机（运行状态）置于高低温试验箱内，调节箱内温度为25℃湿度65%保温1小时后,在1小时内降温至-30℃,湿度关闭,保温2小时后立即进行外观、电性能测试（手机由外接稳压电源供电）。测试完毕，手机于关机状态放置15分钟后左右，开机检查手机冷启动的工作状态，见图表1 高温 低温 各0.5小时 温度交变时间 10秒 循环次数 试验手机不工作放在高低温冲击箱的低温-30℃内保温0.5小时，在10秒钟内将手机从低温箱内转入冲击箱的高温+65℃的箱内，保温0.5小时后又在10秒钟内回到低温-30℃的箱体内为一个循环。12次循环后取出手机，恢复4小时至常温后对手机进行外观、电性能测试，见图表3 跌落高度 120cm （不开机）、80cm（开机） 地面要求 水泥地上铺20mm厚的硬木板 跌落顺序 背面、下面、左侧面、右侧面、顶面（天线）、底面等共6个方向 跌落数量 每个手机做6个方向，共跌落2个循环，每种高度各1个循环 按上述要求对受试的手机做跌落试验。跌落完毕进行外观、电性能测试。 允许有磨损和轻微的裂缝，结构无大的损伤，电池和翻盖不应脱离主机 达到产品技术规范规定功能，开机跌落后应保持操作正常 循环12次 ?2003?/?8?/?19 ?2003?/?8?/?19 ?2003?/?8?/?20 ?2003?/?8?/?21 ?2003?/?8?/?21 ?2003?/?8?/?21 ?2003?/?8?/?21 ?2003?/?8?/?22 ?2003?/?8?/?22 ?2003?/?8?/?22 ?2003?/?8?/?22 ?2003?/?8?/?23 ?2003?/?8?/?23 ?2003?/?8?/?23 12.00