铝对稀土元素基体效应的研究www.yxjgw.com.pdfVIP

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铝对稀土元素基体效应的研究www.yxjgw.com

第 33卷 分析化学 ( FENX I HUAXU E)  研究简报 第 2 期                           2005年 2 月 Ch ine se Jou rnal of A nalytical Chem istry 251~253 铝对稀土元素基体效应的研究 辛仁轩  王建晨 (清华大学核能技术设计研究院 ,北京 100084) ( ) 摘  要  研究了 ICP光源中铝对稀土元素的影响 。测定了 0 ~1000 m g/L 铝 以氯化铝形式 对试液密度 、粘 度和提升量的影响 。研究了铝对等离子体激发温度 , Hα线半宽度及对 M g Ⅱ/M g Ⅰ强度 比的影响 。结果表 明 ,在所研究的 A l浓度范围内,只要正确选择适宜的操作参数 ,铝的影响并不明显 。稀土元素谱线强度的测 ( ) 定显示 ,在低观测高度处 , A l对稀土元素 Eu、L a、N d、Y、Yb 有显著的抑制作用 ,随着观测高度的增加 , A l 的 抑制效应逐渐消失 。由此推断 A l对稀土元素的抑制效应为蒸发原子化干扰 ,这可能是由于 ICP 光源中稀土 元素与氧化铝形成难熔和难挥发的稀土铝酸盐类化合物有关 。 关键词  基体效应 ,铝 ,稀土 , 电感耦合等离子体光谱分析 1 引  言 在 ICP光源中 ,铝的谱线稀少 ,谱线重叠干扰并不严重 ,但铝的基体效应却受到重视 。Savage[ 1 ] 首 先研究了铝对钙的溶质蒸发干扰 。其后几位学者相继研究了铝对贵金属 ,碱金属及碱土金属等的基体 效应 [ 2 ~4 ] 。本实验研究了铝对稀土元素的基体效应 ,铝对试液的物理性质 ,等离子体通道的激发温度 , Hα线半宽度及 M g Ⅱ/M g Ⅰ强度比,探讨了铝对稀土元素基体效应的机理 。 2 实验部分 2. 1 仪器与试剂 ( ) A tom scan 2000顺序扫描型等离子体光谱仪 美国 J arrellA sh 公司 ,高频电源频率 27. 12 MH z, 固 定型交叉雾化器 。分析参数为 :高频功率 1100 W ,载气流量 0. 6 L /m in ,本实验用该仪器测量不同观测 ( ) 高度处发射线强度 。IR IS HR 全谱直读等离子体光谱仪 Thermo E lem en ts公司 ,带有锥型雾室及玻璃 同心雾化器 ,蠕动泵进样 ,分析参数为 :高频功率 1150 W ,载气压力 0. 22 1 M Pa,观测高度 12. 5 mm 。该 仪器用于测量 Hα线半宽度及 M g Ⅱ/M g Ⅰ强度比。单元素标准溶液 : 1000 m g /L , 国家钢铁材料测试中 心制 ; A l元素溶液 : 10 g/L ,用高纯 A l箔溶于盐酸配制 。 2. 2 实验与结果 ( ) 2. 2. 1 铝盐对试液物性的影响  测定了不同浓度铝盐对试液

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