PI薄膜在经过程中热解固态产物结构的X射线衍射分析(论文资料).pdfVIP

维普资讯 Vol1．14 高分子材料科学与工程 No．5 1998年 9月 POLYMER MAIF~ IALSSCIENCEAND NE GINEERING Sept 1998 H 薄膜在炭化过程中热解 固态产物 ，t j『r 结构的x射线衍射分析 g 、 1 ／ l ／ c 赵扭撵 杨章玄 张清香 陶 琨乙／ T 3 摘要 用X射线衍射技术刹定了P1(聚酰亚胺)薄腱在炭化过程中熟裂解固态产斩结构的演变。据衍射峰 随热解炭 化温度的变化规律 ，发现谊试样 的分子链排列由层状 的超分子蛄构转变为杂乱地无序状盎。当加热温度选刘 700℃ 时，观察到代表类似碳六方网面的(002)衍射峰的出现，其衍射 强度随熟解炭化温度的升高而加强。同时，旅捂布拉 幡套式和谢末经验式所获得的微晶足寸和面间距与热解炭化温度 的依赖关系给予了表征 。 ． 关蕾词 墨壁垩壁苎璺， ，堑坚里查主塑：％ ，兰 些塑塾 近年来，聚酰亚胺薄膜成碳的研究受到愈来 理聚酰亚胺薄膜的x射线衍射谱 。图中信息表明 多的科学家们 的高度重视 ，他们对其物理特性作 了 诸多报导 ’2]。而有关结构细节的系统研究 尚不多 见 。 本文结合热裂解条件用 x射线衍射技术较全 面的考察了其产物 的热解特性 ，试 图以结构变化来 表征原膜转化为碳膜 的晶化行为 ，以便为改进试样 的处理工艺 ，探索和设计新 的性能材料提供重要 的 科学依据。 l 实验部分 1．1 试样 本工作所选用的试样和样品处理装置及方法均 与前文报导相同 。 l_2 仪器和实验条件 埘 ‘·) 在 日本理学 D／max-rA型 12kW 转靶阳极X射 1 Patternsofx- ditTre~lioztforavariationofPIfilm withp~miytic协Ⅱl咖 undernltmg~ atm帽曲e 线衍射仪上进行测试 ，仪器条件为 ，铜靶辐射源 ， fn ed如 mete d) ( 线，=l_5418×10 。 ；石黑单色器；管压和 l：r0哪 temp．I2J600℃ ‘3：700℃ ；4I800℃ ‘5： 900 ℃ ；6￡1000 ℃． 管流分别为 40kV和 80II1A~采用的狭缝系统为：DS — r，SS一2。，RS=0．5mm和 Rsl|=O．4mm；连续扫 聚合物原膜塞温下在 2=5．85。处有 1个衍射峰 出 描速度为 (1／4)。／rain；采用定时步进 阶梯扫描方式 现，而在 2=18。处又有 1个很强的衍射峰出现。前 收集数据，步长为0．05。，时间为 0．5s。进行正、反透 者反映出聚合物分子呈片层状排列，它是聚合物层 射测定。 状结构的初级和高级反射峰，分子径 向采取较完美 的层状超分子结构顺序排列 。而后者的衍射峰则代 2 结果与讨论 表聚合物分子链的横 向排列，其间距为 0．49nm，这 Fig．1示 出了在不 同温度条件下所进行的热处 是与 M Kod／．等人[．所报导的结果相一致。当原膜 ·国家和 山西省 自然科学基金