利用太阳电池ⅠⅤ特性测量其基区少数载流子寿命.pdfVIP

第27卷 第9期 阳 能 学 报 Vol.27,No.9 2006年9月 ENERGIAESOU RISSINICA 卿 .,2006 文章编号:0254-0096(2006)09-0905-05 利用太阳电池I-V特性测量其基区少数载流子寿命 马 逊，刘祖明，陈庭金，廖 华，屈 盛 (云南师范大学太阳能研究所，云南省农村能源工程重点试验室，昆明650092 摘 要:提出了一种新的测量成品太阳电池基区少子寿命的方法，这种方法在电池制备完成后进行测量。此方法 还可对印刷电极后烧结这步工艺流程进行少子寿命的监控，以提供改进电极制作工艺信息。 关键词:少数载流子寿命;饱和暗电流;2一v特性 中图分类号 TK514 文献标识码:A 串联电阻和并联电阻的太阳电池的等效电路如 0 引 言 图1所示，其I-V特性可由下式表示: 少数载流子寿命是太阳电池设计及生产中的一 I=I:一I(V)一I, 个重要半导体参数。在太阳电池的制作过程中少数 =I。一Io!、4(V+IRa)一1]V+IRa 载流子的寿命会受到高温处理过程的影响。理论和 nkT R., 实验均指出少子寿命越高，太阳电池的短路电流、开 (1) 路电压会越高。因此在选择材料的少子寿命一定的 情况下，我们希望监控生产工艺对少子寿命的影响 ! 几 1 为改善生产工艺提供科学信息。 几 奋 . . t . . . . . ︸ 夕 。 为提高太阳电池的效率，最好能监控每项主要 v IIR, 工艺完成后对少数载流子寿命带来的影响，从而即 时调整生产工艺，获得良好的工艺流程，提高电池效 率。希望准确地测量少子寿命，迄今为止人们发明 了许多方法。目前最常用的是开路电压衰减法 〕〔‘、 图1直流模型的等效电路图 微波光电导衰减法和准稳态光电导(QSSPC)法等[[2l0 Fig.lEquivalentcircuitofasolarcell, 开路电压衰减法虽然简单，但需要从曲线中判断线 includingseriesandshuntresistances 性部分并且求导得到少子寿命值’」〔，使得人为误差 其中，I— 输出电流;V— 输出电压;n— 二极 较大。微波光电导法的优点为无损、非接触式测量 管品质因子，它反映了p-n结的结构完整性对性能 样品，很容易实现在线检测，可以分别测量基片、扩 的影响;I,— 光生电流;Io— 反向饱和电流; 散和氧化后的少子寿命[21，但是无法测量制作电极 RB— 串联电阻;R}h— 并联电阻;4— 电子电 后电池的少子寿命，因此无法监测制作电极步骤的 荷;;k— 玻尔兹曼常数;T— 绝对温度。根据太 工艺对少子寿命带来的影响。本文所提供的方法在 阳电池的工作原理，对给定的模型可以从理论上得 测量 I-V