电阻抗断层像与核磁共振电阻抗断层成像中的若干数学问题.pdfVIP

中文摘要 摘要 本篇论文主要讨论电阻抗断层成像(EIT)与核磁共振电阻抗断层成像 (MRErD中的若干数学问题。在第一章中，我们介绍电阻抗断层成像的数学模 型和应用前景，并简要回顾它在理论和数值算法上的发展现状。最后，对于分 片电导率的情形，我们提出了基于水平集方法的数值算法，通过数值例子说明 算法的准确性和稳定性。第二章主要对核磁共振电阻抗断层成像方法的相关数 学问题进行讨论，我们证明了介质电导率为正交各向异性时的某种唯一性，此 外，对于正交各向异性的情形提出相应的重构算法。通过数值例子说明，我们 所采用的间断识别方法和数值微分方法是有效的。 关键词：电阻抗断层成像，核磁共振电阻抗断层成像，反问题，唯一性，水平 集方法，重构算法 中图法分类号：0241．82 一Ⅱ一 英文摘要 Abstract In this diSCUSS thesis，we