《X射线衍射课件(XRD)》.ppt

X射线衍射(XRD) 主要内容 一、X射线及其产生原理 二、X射线在晶体中的衍射 三、X射线实验方法 四、X射线衍射谱线分析 五、X射线衍射的应用 六、小角X射线散射 一、X射线及其产生原理 1. 什么是X射线？ 一、X射线及其产生原理 一、X射线及其产生原理 一、X射线及其产生原理 一、X射线及其产生原理 一、X射线及其产生原理 一、X射线及其产生原理 二、X射线在晶体中的衍射 二、X射线在晶体中的衍射 晶体是由原子或原子团在三维空间中周期性重复排列组成的固体。 作为基本单元的原子或原子团叫结构基元，简称基元。 为反映晶体中原子排列的周期性，以一个点代表一个基元，这个点就叫阵点，阵点在三维空间的周期性分布形成无限的阵列，称为点阵。 具有代表性的基本单元（最小平行六面体）作为点阵的组成单元，称为晶胞。将晶胞作三维的重复堆砌就构成了空间点阵。 二、X射线在晶体中的衍射 直线点阵——分布在同一直线上的点阵 平面点阵——分布在同一平面上的点阵 空间点阵——分布在三维空间的点阵 晶 面：结晶格子内所有的点全部集中在互相平行的等间距的平面上，这些平面称为晶面。 晶面指数（密勒指数，Miller):标记同一晶体内不同方向的晶面。 晶面指数的确定方法： 1)在点阵中设定参考坐标系； 2)在一组互相平行的晶面中任选一个晶面，量出它在三个坐标轴上的截矩并用点阵的三个单位向量a, b, c来度量（若该晶面与某轴平行，则在此轴上截距为无穷大；若该晶面与某轴负方向相截，则在此轴上截距为一负值）； 3)取各截距的倒数； 4)将三个倒数分别乘以分母的最小公倍数，把它们化为三个简单整数，并用圆括号括起，即为该组平行晶面的晶面指数。当泛指某一晶面指数时，一般用（hkl）代表。 二、X射线在晶体中的衍射 衍射的本质:晶体中各原子相干散射 波叠加（合成）的结果。 布拉格（Bragg）方程 布拉格把晶体看成是由许多平行的原子面堆积而成，把衍射现象理解为晶体点阵平面族对入射线的选择性反射，从而使衍射方向很容易看出来，布拉格对劳厄方程式给予了直观的解释。 一个电子对X射线的散射强度 三、X射线实验方法 X射线照相法：平板底片法；圆筒底片法（单晶旋转法）；德拜—谢乐法。 X射线衍射仪法 三、X射线实验方法 〓平板照相法： 最常使用的照相机是平面底片照相机。相机主要由针孔光阑、试样架和平面底片暗盒等部分构成。此外，还附有专门的传动装置，可使试样或底片绕入射线轴转动。 对于无规取向高聚物多晶样品，平板照相的结果为许多同心圆环。这是因为在通常情况下的无规取向聚合物结晶是由晶区很小的多晶组成，总会有某些晶粒的(hkl )点阵面与入射线夹角θ处在满足布拉格方程位置，这些衍射线形成一半圆锥角等于2θ的衍射圆锥。当衍射圆锥面和垂直入射X射线的平板底片相遇时，使底片感光形成衍射环。不同的(hkl )点阵面所产生的衍射，形成一系列的同心圆。 三、X射线实验方法 〓德拜谢乐照相法： 即通常所说的粉末法。德拜照相不但能记录到透射区的衍射，而且也能记录到背射区的衍射(2θ90o) 。德拜法衍射花样的测量主要是测量衍射线条的相对位置和相对强度，然后再计算出θ角和晶面间距d(hkl)。每个德拜相机都包括一系列的衍射圆弧对，每对衍射圆弧是它所对应的衍射圆锥与底片相交时所留下的痕迹，它代表一种等同晶面族（hkl）的反射。若图中某一对粉末衍射线的间距为2L，则 （弧度），R为相机半径。 在计算出θ角之后，可利用布拉格方程2dsinθ=nλ计算出每对衍射圆弧所对应的反射面的面间距d。 （一）结晶度的测定 （二）取向度的测定 （三）微晶大小的测定 （四）照相法表征结晶与取向作用 （一）结晶度的测定 利用X射线衍射法和光学方法可以研究纤维的取向度。用光学方法可测量整个分子链或链段的取向，而用X射线衍射法可测量微晶（晶区分子链）的取向。非晶区分子链的取向，则由两种方法测定的结果加以换算得出。 一般情况下，可用Hermans提出的取向因子描述晶区分子链轴方向相对于参考方向（拉伸方向、纤维轴方向）取向情况。 无应力微晶尺寸可以由谢乐公式计算 衍射照片特征： （1）未取向高聚物X射线衍射图的特点为对称的圆环分布，一般称为德拜-谢乐环。 （2）非晶高聚物衍射图常具有一个或两个弥散环，而当衍射图中具有一个或两个清晰圆环，则为结晶性较差的高聚物。 （3）结晶性好的高聚物的衍射图中具有多个清晰圆环。 （4）对于取向高聚物而言，非晶高聚物的弥散环集中在赤道线上，形