石英晶体双射率色散关系的高精度测量.pdfVIP

摘要 第1页 捅斐 随着偏光技术与信息技术的发展，利用双折射现象，加工而成的偏光器件，已在很多 领域有了广泛的应用。折射率是晶体的重要光学参数之一，其测量对器件设计有至关重要 的作用。测量双折射率的方法有很多，大多数是针对单一波长进行，先测出主折射率，然 后由其推算出双折射率值，精度一般在10～。比较精确的测量方法当数干涉测量法，如浸 液干涉法和自补干涉法，它们的共同之处是精度比传统方法提高一至两个数量级，但是上 述干涉法用于可见光之外的测量是不适宜的，并且测试所需样品精度要求非常高，一般晶 体加工工艺难以保证，从而使得测量精度与理论精度相差较大。 本文详细介绍了两种高精度测量石英晶体双折射率色散特性的方法。偏光干涉法和椭 偏测量法。这两种方法都屏蔽了光源不稳定带来的影响，具有测量精度高，测量波段宽， 光路简单，数据采集自动化等特点。论文共分五章：