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Tophat Z- 用 挡板 扫描技术研究酞菁铜有机薄膜的光学非线性 中文摘要 中文摘要 随着非线性光学技术的飞速发展，人们对非线性光学材料的研究日益加深。对非 线性光学材料的研究离不开便捷可靠的测量方法。在过去的数十年时间内，多种不同 的实验方法被用于测量材料的光学非线性性质。例如非线性干涉法、简并四波混频、 Z- 近简并三波混频、椭圆偏振法以及光束畸变法等。 扫描技术是光束畸变法的代表方 法，它是一种利用单光束测量材料三阶非线性极化率的方法。它具有实验装置简单、 灵敏度高、可以同时测量非线性吸收和非线性折射的大小和符号等优点。 Z- Tophat 本论文介绍了挡板 扫描技术，讨论了实验参数对其测量精度的影响。 Z- Z- 挡板 扫描技术在传统 扫描光路的远场区域加入了一个光阑和一个挡板，并用 Tophat光取代高斯光，通过测量非线性光强变化较快的空间高频信号来提高非线性折 Z- Tophat Z- 射的测量灵敏度。跟传统 扫描技术相比，我们发现 挡板 扫描技术的非线 Z- 性折射率曲线是一个单峰的形式而不是传统 扫描技术的峰谷形式。该技术对于非 Z- 线性折射率的测量有着很高的测量灵敏度，相比较传统 扫描技术，灵敏度可以提 升一个数量级以上。 Tophat Z- 我们用 挡板 扫描技术对一种电沉积法制备的酞菁铜薄膜进行测量，研 究该薄膜在19ps脉宽、532nm波长的激光脉冲作用下的光学非线性性质。通过实验 获得该薄膜的测量曲线，拟合得出该薄膜的非线性折射率。由于该薄膜厚度很薄，它 Z- 造成的非线性相移很小，我们用传统 扫描技术无法测得它的非线性折射率。从而 Tophat Z- 说明该改进的 挡板 扫描技术是一种有效的高灵敏度测量技术，我们可以应 用该技术对薄膜材料的光学非线性进行研究。 Tophat Z- 关键词： 挡板 扫描；酞菁铜薄膜；光学非线性 作 者：罗李浩 指导教师：宋瑛林 I Abstract Tophat Z- 用 挡板 扫描技术研究酞菁铜有机薄膜的光学非线性 Abstract Withtherapiddevelopmentofnonlinearopticaltechniques,theresearchonnonlinear optical materials is growin faster and faster. Research on nonlinear optical materials depend on convenient and reliable measurement methods. In the past several decades, a varietyofdifferentexp