《现代材料分析方法试题及答案3》.doc

现代材料分析方法试题3 一、比较下列名词（每题 3分，共 15 分） 1. X 射线和标识 X 射线， 2.布拉格角和衍射角， 3.静电透镜和磁透镜， 4.原子核对电子的弹性散射和非弹性散射， 5.热分析的热重法和热膨胀法 二、填空（每空 1 分，共 20 分） 1. X 射线衍射方法有 、 、 和 。 2.扫描仪的工作方式有 和 两种。 3. 在 X 射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由 委 员会编制，称为 卡片，又称为 卡片。 4. 电磁透镜的像差有 、 、 和 。 5.透射电子显微镜的结构分为 系统、 系 统和 系统。 6. 影响差热曲线的因素有 、 、 和 。 三、回答下列问题（45 分） 1. X 射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究？（5 分） 2. 在 X 射线衍射图中，确定衍射峰位的方法有哪几种？各适用于什么情况？（7 分） 3. 在电子显微分析中，电子的波长是由什么决定的？电子的波长与该因素的关系怎样？关系式？（3 分） 4. 扫描电镜对试样有哪些要求？块状和粉末试样如何制备？试样表面镀导电膜的目的？（8 分） 5. 在透射电子显微分析中，电子图像的衬度有哪几种？分别适用于哪种试 样和成像方法？（5 分） 6. 差热曲线中，如何确定吸热（放热）峰的起点和终点？起点和终点各代表什么意义？（5 分） 7. 红外光谱分析主要用于哪几方面、哪些领域的研究和分析？红外光谱法有什么特点？（7 分） 8. 光电子能谱分析的用途？可获得哪些信息？（5 分） 现代材料科学研究方法试题3答案 一、比较下列名词（每题 3 分，共 15 分） 1. X 射线和标识 X 射线： X 射线：波长为 0.01~1000? 之间的电磁波，（1 分） 标识 X 射线：只有当管电压超过一定的数值时才会产生，且波长与 X 射线管 的管电压、管电流等工作条件无关，只决定于阳极材料，这种 X 射线称为标识 X 射线。（2 分） 2. 布拉格角和衍射角： 布拉格角：入射线与晶面间的交角，（1.5 分） 衍射角：入射线与衍射线的交角。（1.5 分） 3. 静电透镜和磁透镜： 静电透镜：产生旋转对称等电位面的电极装置即为静电透镜，（1.5 分） 磁透镜：产生旋转对称磁场的线圈装置称为磁透镜。（1.5 分） 4. 原子核对电子的弹性散射和非弹性散射： 弹性散射：电子散射后只改变方向而不损失能量，（1.5 分） 非弹性散射：电子散射后既改变方向也损失能量。（1.5 分） 5.热分析的热重法和热膨胀法 热重法：把试样置于程序控制的加热或冷却环境中，测定试样的质量变化对 温度或时间作图的方法，（1.5 分） 热膨胀法：在程序控温环境中，测定试样尺寸变化对温度或时间作图的方 法。（1.5 分） 二、填空（每空 1 分，共 20 分） 1. X 射线衍射方法有 劳厄法 、转晶法 、粉晶法 和 衍射仪法 。 2.扫描仪的工作方式有 连续扫描 和 步进扫描 两种。 3. 在 X 射线衍射物相分析中，粉末衍射卡组是由 粉末衍射标准联合 委员会编制，称为 JCPDS 卡片，又称为 PDF 卡片。 4. 电磁透镜的像差有 球差 、色差 、 轴上像散 和 畸变 。 5.透射电子显微镜的结构分为 光学成像系统、真空系统和 电气系统。 6. 影响差热曲线的因素有 升温速度 、 粒度和颗粒形状 、 装填密度 和 压力和气氛 。 三、回答下列问题（45 分） 1. X 射线衍射分析可对无机非金属材料进行哪些分析、研究？（5 分） 答： （1）. 物相分析：定性、定量（1 分） （2）. 结构分析：a、b、c、α、β、γ、d（1 分） （3）. 单晶分析：对称性、晶面取向—晶体加工、籽晶加工（1分） （4）. 测定相图、固溶度（1 分） （5）. 测定晶粒大小、应力、应变等情况（1 分） 2. 在 X 射线衍射图中，确定衍射峰位的方法有哪几种？各适用于什么情况？（7 分） 答： （1）.峰顶法：适用于线形尖锐的情况