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四羟丙基乙二胺和EDTA·2Na盐化学镀铜体系研究.pdf
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四羟丙基乙二胺和EDTA ·2na
盐化学镀铜体系研究
a a b a a
郑雅杰 ,邹伟红 ,易丹青 ,龚竹青 ,李新海
(中南大学a. 冶金科学与工程学院;b. 材料科学与工程学院,湖南 长沙410083 )
要] 为了降低成本、提高镀层质量和镀液的稳定性,以混合配位体(EDTA ·2na )代替
[摘
THPED(四羟丙基乙二胺),系统研究了THPED 和EDTA ·2na 盐双配位体化学镀铜体系。对镀速、
镀液稳定性及镀层附着力的研究结果表明,镀速随EDTA ·2na 盐、硫酸铜和甲醛浓度的增加先升高
后降低;随THPED 浓度的增加先降低后升高;随溶液pH 值和镀液温度增加而升高;添加剂亚铁氰化
钾、, -联吡啶和2 - MBT 虽均使镀速减慢,但能使镀层外观变好;聚乙二醇-1000 (PEG -1000 )对镀
! !
速影响较小,但能使镀层质量变好。其化学镀铜最佳条件为THPED 10. 0 g / L ,EDTA ·2na 8. 7 g / L ,
CUSO ·5H O 12. 0 g / L ,甲醛(37 ! ~ 40 !)16. 0 mL / L,, - 联吡啶10. 0 mg / L,亚铁氰化钾40. 0
4 2 ! !
mg / L ,PEG -1000 1. 0 g / L ,2 - MBT(二巯基苯骈噻唑)0. 5 mg / L ,pH 值13. 2 及镀液温度50 C 。在最
佳条件下获得的镀层外观红亮、表面平整,镀液稳定,镀速达到4. 05 m / 1 。由SEM 分析可知,镀层
表面平整、光滑、晶粒细致。
化学镀铜;配体;镀速;四羟丙基乙二胺;EDTA ·2na ;工艺优化
[关键词]
02 - 0020 - 05
[中图分类号]TG174. 44 [文献标识码]A [文章编号]1001 - 1560(2006 )
0 引 言 层力学、电气性能也很好,但价格较EDTA ·2na 盐
或酒石酸盐高。为了降低成本,提高经济效益和镀
20 世纪50 年代中期,随着印制线路板(PCB )
液的稳定性,可在化学镀铜液中用混合配位体(即
通孔金属化的发展,化学镀铜得到了最早的应
[1,2 ] EDTA ·2na 盐)代替价昂的 THPED 。THPED 和
用 。电子工业的发展,特别是微电子技术的发
EDTA ·2na 盐双配位体体系是化学镀铜新体系,
展,化学镀铜被广泛应用于电子封装技术和大规模
在文献中没有相关报道。本工作系统地研究了各
集成电路(VLSI )及超大规模集成电路(ULSI )
[3 ] 种因素对该体系镀速、稳定性及镀层质量的影响,
中 。因此,高速、性优的化学镀铜已成为材料学
家研究的热点。 在最佳条件下该镀速达到4. 05 m / 1 ,SEM 分析
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