《SF6气体绝缘高压设备颗粒陷阱综述》.pdfVIP

第49卷 第9期 瘩压电苌 Vo1．49 No．9 · 150 · 2013年 9月 HighVoltageApparatus Sep．2013 SF6气体绝缘高压设备颗粒陷阱综述 李翔宇 ， 淡淑恒 ， 尤伟任 ， 吴明埝 (1．上海 电力学院，上海 200090；2．中天科技股份有 限公司 ，南通 226010) 摘要 ：以S 气体作为绝缘气体的电气设备都存在一个共 同的问题 ，即这些GIS／GIL设备在设备的生产制造环 节以及设备运行过程中会产生一定的金属颗粒 ．带电颗粒受到电场力的作用会在设备中运动或 附着在绝缘 子和电极表面上而导致内外电极间的击穿或 闪络 ，而降低设备的绝缘性能。所以在GIS／GIL设备 内部需要安 装一些减少金属颗粒对绝缘性能影响的结构 ，其中颗粒陷阱(particletrap)就是其中之一 ，笔者通过对多年来 的相关文献的阅读研 究，总结 了为了减少粒子的影响各个公司及研 究人 员所做的各种研 究工作 ，分别介绍 了美国西屋电力公司申请的专利及用于限制颗粒运动的其他专利 ．引用其他研究人员的