化学物理3-1.pptVIP

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  • 2016-10-12 发布于云南
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3.2.2 低能电子衍射( LEED ) 入射粒子: 电子 检测粒子: 衍射电子 ? 测试深度: 10 A LEED提供有关晶格距离的数据,由于使用低能电子,因此,主要提供表面原子、顶层和两层原子的信息 ? l?????? 了解外来粒子的清除情况 l?????? 提供有关表面重建的信息 l?????? 提供有关吸附粒子有序间距 l?????? 提供表面台阶的资料 分辨率: 由于入射电子束能量数量级为0.3 eV, 因此分辨率限于0.3 eV 对于n型半导体: 平带时 ? ?= 0 耗尽层 ? ? 0 聚集层 ? ? 0 反型层 ? ? 0 (空穴导电) 存在的问题: 反型层或累积层势阱中,载流子的迁移率低于体相中的迁移率,载流子在运动时受限制且被表面散射,使它们的迁移率(在单位电场下的速度)降低。 影响因素: 载流子密度 迁移率 1. 倒空层 对于n型半导体: 平带时 ? ?= 0 耗尽层 ? ? 0 聚集层 ? ? 0 反型层 ? ? 0 (空穴导电) 2. 聚集层 对于n型半导体: 平带时 ? ?= 0 耗尽层 ? ? 0 聚集层 ? ? 0

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