野外X荧光技术指南-中国地调局.docVIP

AA 野外X荧光技术应用指南 编 写 者： 葛良全 赖万昌 林延畅 成都理工大学 2002年12月 A野外X荧光技术应用指南 1.0 适用范围 1.1 本指南只适用于以放射源和低功率X射线管作为X射线激发源的轻便型或手提式X射线荧光仪器对天然岩石、土壤和沉积物及其样品进行原位或驻地分析，解决地质勘查各阶段中地学研究与找矿问题。本指南亦可供其他非地质行业进行类似工作时参照使用。 1.2 野外X荧光仪的分析元素范围列于表1。表1缺少一些常规元素，因为它们是难以被便携式现场X荧光（FPXRF）仪探测到的“轻”元素，它们是：锂、铍、钠和镁。表1中的大多数元素与成矿元素或其伴生元素有关。FPXRF一般能探测并测定原子序数≥14的元素含量。 1.3 检出限一般由以下几个因素决定：待测岩石、土壤或沉积物的类型、选用的X射线探测器类型、激发源种类、激发源活度、用于辐照样品的计数时间、被测对象的物理条件、基体效应及元素间特征X射线谱的干扰。一般FPXRF仪器对化探样品的检出限也列于表1，表中检出限仅供参考，它会随样品基体、使用的仪器种类及操作条件的不同而变化。 1.4 本方法只限于熟悉X荧光仪操作的人员使用，或者在相关专业技术人员的监督下使用。它主要用于现场快速分析。部分元素的FPXRF的方法检出限（MDL）达到了地质找矿工作对化探样品的检出限要求,特别是在异常点的二、三级查证工作中。如果FPXRF的精确度、准确度和检出限满足地质普查工作的要求，则野外X荧光技术将是一种快速、有力、高效的现场分析技术。 2.0 术语解释 2.1 便携式现场X荧光（FPXRF）仪：基于能量色散X射线荧光分析原理的轻便型仪器，可对元素进行定性和定量分析。 2.2 多道脉冲幅度分析器（MCA）：将电脉冲按脉冲幅度分类，并线性地分配到对应道址存贮器中的电子线路单元。 2.3 现场校准标样（SSCS）：在野外现场对仪器进行校准的标准样品。 2.4 标准参考物质（SRM）：具有确定的元素含量的国家级土壤或岩石、或沉积物标准物质。 2.5 电子伏特（eV）：X射线的能量单位，它等于单位电子通过一伏特电压时获得的能量。 3.0 方法原理 3.1 本方法中描述的FPXRF技术，使用密封的放射源或者低功率X射线管产生X射线激发样品。当样品被X射线激发时，源X射线可能被样品中的原子散射或吸收，后一过程是众所周知的光电效应。当一个原子吸收了源X射线，入射射线就会从该原子的最内层撞 待测元素范围 Al~V Ti~Mo/Pr~U Mo~Tm Pr~Au 待测谱线 Kα Kα/Lα Kα Kα 激发源及活度 (×108Bg) 55Fe(7.40) 238Pu(37.0) 241Am(3.70) 109Cd(2.22) 检出限 10-6g/g ≤10 Cu、Zn、Ga、Ge、As、Se、 11~100 Co、Ni、Br到Mo、Ag到U 101~1000 K、Ca、Sc、Cr、Mn、Fe、Tc、Ru、Rh、Pd 1000 Al、Si、P、S、Cl、Ar 表1 野外X射线荧光仪可测量的部分元素及其检出限(×10-6g/g) 出电子形成空位，外层电子会来填充该电子空位。因为外层电子比内层电子能态高，当它们填充内层空位时会释放能量。电子的这种重新排布导致特定原子的特征X射线辐射，以这种方式产生的X射线辐射被称为X射线荧光。 对天然土壤、岩石及其样品的FPXRF分析，一般包括三个电子层的特征X射线，它们是K、L和M层。一般测得的大多数X射线来自K和L层，只有原子序数57的金属元素可测到M层特征X射线。 特征X射线系用带有下标α或β的字母K、L或M定义，K、L或M表示哪一电子层最初有空位，下标表示从那一较高层来的电子填充空位并产生X射线。例如，Kα系是由L层电子填充K层空位产生，而Kβ系是由M层电子填充K层空位产生。Kα的跃迁几率是Kβ的平均6到7倍，所以特定元素的Kα系照射量率是Kβ系的6~7倍，故而一般选择Kα系做定量测量。 特定元素的K系是X射线荧光能量最高的系，也是做分析较喜欢选用的系。对特定的原子，L跃迁放出的X射线能量总低于K跃迁的。与K系不同，一种元素的主要L系（Lα和Lβ）X射线的照射量率几乎相等，选择Lα还是Lβ做分析特征线可依据干扰元素特征X射线与哪条谱线产生重叠（而选择另一条谱线）而定。L系可用来分析原子序数在58（铈）至92（铀）间的高原子序数的元素。 只要激发源发出的X射线能量大于元素某一线系的吸收限，即K吸收限、L吸收限或M吸收限，则该源发出的X射线就能激发该元素的特征X射线。某一线系的吸收限稍高于该线系的特征X射线能量，实际上，元素的K吸收限近似等于K、L和M系能量的和，L吸收限近似等于L和M系能量的和。激