三频信标电离层扰动探测及其层析成像关键技术的研究.pdf

摘 要 电离层层析成像技术（Computerized Ionosphereic Tomography，CIT ）是 一种全天候的电离层探测技术，具有耗费低，易于实现，探测范围广等优势，已 经成为一种重要探测手段。利用卫星信标 CT 成像监测震前电离层异常扰动，已 经引起了人们的广泛关注，但是传统的双频信标技术，由于电离层电子总含量 （Total Electron Content，TEC ）测量不够精确、数据采集有限视角等问题，致使 成像结果精度不高，不足以观测震前电离层小尺度扰动。 三频信标探测技术的发展，为高精度的电离层 CT 成像研究带来了希望，三 频信标有三个频率载波，通过三个频率之间的两两差分并结合有关数学处理，使 相位模糊系数大幅度提高，从而大大降低了相位积分常数的求解难度。目前国际 上在轨的三频信标是由美国和台湾共同研制和运行的，已经初步显示了高精度探 测的优势，但是面对新的应用目的，仍有一些关键技术和基本问题需要解决。 本文的主要研究目标是：模拟量化分析三频信标在高精度 TEC 探测方面的 优势，模拟三频信标探测小尺度电离层扰动的能力，并给出高效精确的 CT 算法， 为三频信标的设计和运行提供技术支撑。在此目标的指