一种面向设计寿命全过程的电子系统可靠性分配法.pdfVIP

第 1期 尤明懿 ：一种面向设计寿命全过程的电子系统可靠性分配法 当前 ，系统研制任务书中往往给出设计寿命末 下 。优化可靠性指标的分配，使系统各单元在设计 系统可靠度的要求 (如 ：5年末系统可靠度不低于 寿命中各个时期 的可靠性分配指标相近。 0．8)。在系统研制过程 中，根据对研制产品认识的 1 面向设计寿命全过程的电子系统可 不断深入 ．采用适当的可靠性分配法将这一指标分 配至各单元。各单元通过冗余设计、元器件降额设 靠性分配法 计、热设计和电磁兼容设计等最终满足所分配的可 本节给出面向设计寿命全过程的电子系统可靠 靠性指标，进而保证系统在设计寿命末满足所要求 性分配框架。下面首先给出一个简单的例子以介绍 的可靠度。这里，单元既可以是一台单机 ，也可以 面向设计寿命全过程的可靠性分配框架的思想 。而 是多台主备份单机构成的功能体 。系统的可靠性框 后进行泛化 ．形成针对 由多单元构成 的电子系统的 图往往 由多个单元 串联构成 。目前 ，在系统设计寿 可靠性分配法 。 命末可靠性指标 的分配方法上已有大量的理论研究 1。1 引例 与应用案例 [2-71。 当前系统可靠性分配工作 ，主要是对设计寿命 考虑一个 由两个单元组成 的电子系统 ，如图 1 末这一时刻的系统可靠度进行分配 。并不关注分配 所示 。图 1给出了该二单元 电子系统两个单元的可 后各单元在整个设计寿命过程 中的可靠性 。实际 靠性函数，其 中单元 1即由一台单机组成，该单机 上，在满足系统设计寿命末可靠度要求的前提下， 内部均为串联结构，其失效率 以A。表示 ；单元 2 可能存在下述情况 ：即某单元 (单元 A)分配的可 由两台相同单机构成热备份单元，每台单机内部均 靠度很高，而另一单元 (单元B)所分配的可靠度 为串联结构 ，其失效率以A表示。 相对较低 ，这种不平衡容易使研制出来 的单元 B 单元1 l l 单元2 成为系统 的 “短板 ”。即使单元 A失效概率很低 ， R-∽=唧 _( I IRz(t)=l-[1一exp(- )J2 但会 由于单元 B的高失效概率导致系统失效概率 图1 某二单元 电子系统 较高，最终浪费了曾经投人大量精力研制的高可靠 单元A。这就要求在进行可靠性分配时将系统可靠 考虑系统可靠性指标为：设计寿命 T=10000h 性指标较均衡地分配至各单元 。例如：在研制条件 末大于等于 0．81，即 ( ≥O．81。采用等分配 允许的前提下。采用等分配法 【】可将系统设计寿 法 ．得 ： 命末 的可靠性指标平均分配给各单元 。在系统各单 R (7)=R2( =0．9 (1) 元可靠性 函数一致 (如 ：寿命均为指数分布)时 ， 需要指出的是 ，这里采用等分配法进行初步分 等分配法可保证各单元在设计寿命全过程 中可靠性 配．是基于等分配法将系统可靠性指标均衡地分配 水平一致。 至各单元的思想。 然而 。当各单元的可靠性函数不一致时，保证 图2给出了单元 A与单元 B从开始工作至设 各单元在设计寿命末可靠度一致无法使各单元在设 计寿命末的可靠度 曲线 。 计寿命全过程中可靠