液晶模组中功率led的可靠性研究.pdfVIP

谨以此论文献给所有关心我的人！ 张勇 液晶模组中功率型LED 的可靠性研究 摘 要 发光二极管(Light Emitting Diode, 简称LED)是一种固态半导体发光器件， 由于其独特的高光效、长寿命、固态、环保等优点，成为近年来照明技术领域 的研究热点。然而功率型LED 的性能仍受结温等因素影响，其结温的升高不仅 降低光效输出，而且会影响LED 可靠性，缩短其使用寿命。因此，对于功率型 LED 其可靠性研究至关重要。本论文以液晶电视背光模组中的功率型LED 为研 究对象，研究了三部分内容。 首先测试了LED 的光电特性，根据测试结果分析了LED 光电特性随电流增 大及结温升高的变化规律，发现大电流和高结温会造成LED 光电特性发生剧变， 从而严重影响LED 可靠性。 本论文在充分调研了LED 结温测量方法，特别是正向电压法的基础上，以 LabVIEW 和高速数据采集卡为基础搭建了结温测试系统，测得了不同类型贴片 式LED 的电压温度系数，并研究了其中的规律和差别。在测得LED 电压温度系 数的基础上测量了贴片式LED 结温，特别是测试了液晶模组散热器上LED 的结 温，验证了使用该结温测试系统应用于液晶模组中LED 结温监测的可行性，为 LED 温度可靠性提供了测试方法。 对液晶模组中LED 进行了长期老化实验，并测试了老化过程中LED 的光输 出变化。根据所测数据及相应数学模型预测了LED 的有效使用寿命，并探究了 加大电流应力对LED 老化的影响及电流加速实验对LED 可靠性评述的作用。 关键词：光电特性；LED 结温；正向电压法；老化；LED 可靠性 I II The Study of Reliability of Power LED in LCD Backlight Module Abstract Light Emitting Diode （referred to as LED ） is a solid-state semiconductor lighting device. Because of its unique advantages of high lighting efficiency, long life-span, solid-state and environmental-friendly, it has become a research focus in the field of illumination technology in the recent years. However, the junction temperature has a great influence on the performance of high power LED. The risen junction temperature will not only reduce the light efficiency, but also directly affect the reliability of power LED, even shorten the service life of it. In this paper, taking the power SMD LED in LCD backlight module as the experimental subject ，the research has three parts of contents. Firstly in this paper, on the basis of test results of LED optical a