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复合多晶硅栅lmos器件的结构设计与电学特性分析

摘要 摘要 近年来,随着以蜂窝式移动通信为主的通信市场爆炸式的增长,人们对于性 能优异的RFLDMOS器件的需求越来越广泛,例如通讯基站使用的发射放大器, 器件,除了电流电压特性方面的要求外,还对器件在频率方面提出了更高的要求, 所以,在设计新的应用于通讯Ic的LDMOS器件时,必须在高压和高频两方面 进行考虑。基于以上两点的考虑,本文提出了一种复合多晶硅栅(DMG,Dual Material 于射频放大电路。 本文首先介绍了LDMOS在射频领域中的应用和其具有的优势,接着介绍了 LDMOS的器件结构和特性,然后针对当前改善LDMOS特性所采取的主要手段, 介绍了几种具体的LDMOS结构,并比较了其主要性能参数。 本文提出的DMG.LDMOS结构采用了栅工程的概念,所设计的栅as.gate和 在复合多晶硅栅的实现工艺上,本文采用了一种补偿注入的方法,只需利用一块 S-gate掩模板就可形成复合栅电极结构,工艺简单可行,同时,本文利用工艺模 拟软件Tsuprem4对DMG—LDMOS器件进行了工艺模拟,并给出了简明工艺流程。 阈值电压是MOS器件的重要参数之一,为了使电路模拟软件能够正确模拟 电路的特性,建立精确的闽值电压模型是非常重要的。由于DMG-LDMOS的栅 电极由掺杂类型和浓度不同的多晶硅材料构成,而且沟道是非均匀掺杂,因此很 难通过解泊松方程来求阈值电压的解析模型。本文通过MEDICI模拟软件分析了 DMo-LDMOS的闽值电压与复合栅长度比例、功函数差之间的关系,并在普通 LDMOS阙值电压模型的基础上建立了含有经验参数的DMG-LDMOS的阈值电 压模型,模型中的参数与衬底材料、复合栅结构与材料有关。将模型的计算结果 与MEDICI的模拟数据进行了比较,两者的误差很小,说明该模型可以精确地描 述DMG-LDMOS的阂值电压,在电路模拟中有一定的参考价值。 在对DMG-LDMOS器件直流、交流特性的研究过程中,通过仿真软件 复合多品硅栅LDMOS器件的结构设计与电学特性分析 函数的p+多晶硅构成,因此在复合栅的界面处会产生一个阶梯电势和一个峰值电 场,在这个峰值电场的作用下DMO·LDMOS的载流子在沟道区的平均速度增大, 从而提高了器件的跨导与截止频率;另外这个阶梯电势使的器件的表面电场分布 更加均匀,可以在导通电阻变化不大的情况下提高击穿电压;同时这个阶梯电势 对漏端电场峰值起到屏蔽的作用,从而减小了热电子效应,增加了器件的使用寿 命。 关键词:LDMOS、复合栅、阈值电压、跨导、截止频率 Abntact Abstract marketwhich Inrecent give years,communication pdoH何tohoneycomb the RF communicationincreases demandfor LDMOS mobile explovsivaly.So andmore suchasemission whose becamemore extensively amplifieroperating to2.4GHzand about RF isfrom900MHz voltage30V.ToLDMOS.nlore frequency hasbeen todevice besidesintfinieI-Vcharacteristics.And attation paid frequency beconcernedwhen boththe

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