《数字电路实验讲义》.docVIP

数字电路实验讲义 2008年5月 目 录 实验1 TTL集成逻辑门功能测试 1 实验2 组合逻辑电路 6 实验3 加法器 9 实验4 触发器逻辑功能测试 13 实验5 译码器及数据选择器的应用 17 实验6 同步计数器 23 实验7 集成单元异步计数器 27 实验8 移位寄存器的功能测试及应用 33 实验9 555 集成定时器的应用 36 实验1 TTL集成逻辑门功能测试 一、实验目的 1．掌握TTL与非门、或非门、异或门的逻辑功能。了解三态门的主要特性及使用方法。 2．掌握TTL门电路电压传输特性的测试方法。 二、实验仪器 1．数字电路实验箱一台 2．万用表一块 3．集成芯片 74LS00 四2输入与非门 74LS55 4输入与或非门 74LS86 四2输入异或门 74LS125 四2输入三态门 三、实验原理 TTL与非门的电压传输特性：电压传输特性表示与非门的输出电压U0与输入电压Ui之间的关系，由该曲线可以得到以下参数：U0H（输出高电平）；U0L（输出低电平）；阈值电压UTH（转折区中点对应的输入电压）。 三态门的特点：三态门的输出除0态和1态外，还可以呈现高阻状态，或称为开路状态。利用三态门可以实现总线结构，还可以实现数据的双向传输。 四、实验内容及步骤 1. 测试TTL与非门（74LS00）的逻辑功能 1）集成电路的管脚见图1所示，管脚标“VCC”接电源 +5V，管脚标“GND”接电源“地”，集成电路才能正常工作。门电路的输入端接入高电平（逻辑1态）或低电平（逻辑0态），可由实验箱逻辑电平开关K提供，门电路的输入端接逻辑电平指示灯L，由L灯的亮或灭来判断输出电平的高、低。 74LS00 二输入与非门 74LS55 与或非门 74LS86 二输入异或门 74LS125 四路三态缓冲门 图1 集成电路管脚图 2）实验线路如图2所示，与非门的输入端A、B分别接实验箱中逻辑电平开关K1、K2，扳动开关即可输入0态或者1态。输出F接实验箱中逻辑指示灯L1，当L1亮时，输出为1态，不亮时则输出为0态。 3）用数字表逻辑挡检测TTL门电路的好坏：先将集成电路电源管脚“VCC”和“GND”接通电源，其它管脚悬空，数字表的黑表笔接电源“地”，红表笔测门电路的输入端，数字 表逻辑显示应为1态，如显示为0态则说明TTL与非门输入端内部已被击穿，门电路坏了，此门电路不能再使用；红表笔测门电路的输入端，输出应符合逻辑门的逻辑关系。例如：与非门（74LS00），表测量两输入端悬空都为逻辑1，输出应符合逻辑与非门的关系，测量应 为逻辑0态，如果逻辑关系不对，可判断门电路坏了。 （K1）A 1 3 F（L1） （K1）B 2 2 图2 TTL与非门 4）将测试结果填入表1中，并写出输出F的逻辑表