FPGACPLD器件.pptVIP

2.1 PLD器件概述 PLD的集成度分类 PLD连接表示法 2.3 低密度PLD的原理与结构 2.4 CPLD的原理与结构 典型CPLD器件的结构 2.5 FPGA的原理与结构 查找表原理 典型FPGA的结构 2.6 FPGA/CPLD的编程元件 2.7 边界扫描测试技术 2.8 FPGA/CPLD的编程与配置 2.8 FPGA/CPLD的编程与配置 2.9 FPGA/CPLD器件概述 2.9 FPGA/CPLD器件概述 2.9 FPGA/CPLD器件概述 2.9 FPGA/CPLD器件概述 2.10 FPGA/CPLD的发展趋势 习 题 2 XC4000器件的CLB结构 Cyclone器件的LE结构（普通模式） 典型FPGA的结构 1．熔丝(Fuse)型器件 2．反熔丝(Anti-fuse)型器件 3．EPROM型，紫外线擦除电可编程 4．EEPROM型 6．SRAM型 5．Flash型 边界扫描电路结构 为了解决超大规模集成电路（VLSI）的测试问题，自1986年开始，IC领域的专家成立了“联合测试行动组”（JTAG，Joint Test Action Group），并制定出了IEEE 1149.1边界扫描测试（BST，Boundary Scan Test）技术规范 引 脚 描 述 功