基于子结构法板级PoP跌落冲击可靠性分析地研究.ppt

一、概述 一、概述 子结构技术具有降低计算规模、提高计算效率、保证一定精度的特点，对于求解计算规模较大的结构分析具有极大优势，因此有必要将子结构方法应用到PoP焊点跌落可靠性有限元分析中。 二、论文重要理论基础 1、 跌落可靠性试验 1）标准板级跌落实验 试验过程中，跌落台在固定高度无初速度释放，沿着导轨自由下落，直至碰撞到覆盖着毡垫的刚性基座上，在此过程中，跌落台产生加速度脉冲，此脉冲通过基准平面和支撑支座传递到PCB组件和加速计上，PCB组件受到加速度脉冲的作用，发生弯曲变形。 二、论文重要理论基础 2）四点动态弯曲实验 JEDEC推荐跌落实验还处于试用阶段，实验准备时间长不利于新产品的开发，因此近年来寻找标准板级跌落替代性试验来对比和评价焊点的冲击性能。在诸多替代性实验中，相比而言，动态四点弯曲方法实验设备简单且可操作性强，焊点的力学行为也最接近JEDEC推荐的测试方法。 动态四点弯曲试验装置示意图如图2-2所示，整个实验装置包括跌落重物、加载支架、PCB组件、封装体、橡胶、支撑支架和固定支座等。 二、论文重要理论基础 2、子结构方法理论 子结构技术是有限元法的一种高级分析技术，子结构法就是将一组单元用矩阵凝聚为一个单元的过程。其基本思想是，遵循某些原则要求，将一个大型结构分解成一些规模较小的部分——子结构