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机器视觉硬件基础培训内部培训资料.ppt

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★ 光源 补色 ( Utilization of color ) 三、照明技术—色 青 ★ 光源 三、照明技术—偏光技术 偏光镜 偏光板 ★ 光源 三、照明技术—偏光技术 没有用偏光技术 ★ 光源 三、照明技术—偏光技术 使用偏光技术 ★ 光源 三、照明技术—防外乱光滤波片 防外乱光滤波片的效果 检测IC芯片上的印刷字符 检测电路板上的零件 检测塑料容器的底部 标签检测 检测液晶玻璃基板的标记 直接型 沐光方式 高密度光输出,产生鲜明逼真的图像 ★ 光源 读取发动机部件上的印刷标记 晶片损伤检测 BGA焊点位置和面积的检查 读取刻印字符 检查玻璃基板,晶片损伤,污点 直接型 低角度方式 工作模块边缘检测和光滑表面的划痕检测 ★ 光源 检测小型LCD面板 标签检测 陶制封装件的外部和裂缝检测 QFP,SOP检测 金属板表面检查 直接型 条形方式 高密度的LED阵列置于紧凑的,成直角的,可倾斜的发光照明单元中。 ★ 光源 检测树脂产品 检测插件等 检测胶片和纸张 直接型 聚光方式 线型,汇聚光束照明 ★ 光源 BGA焊点位置和面积的检查 铝罐头的底部检测,塑料盖的侧面检查 高尔夫球的污点检查,SOP,CSP类型的字符检测等 检查芯带内的QFP,SOP等的插针 QFP,SOP的外观检查 间接型 低角度方式 均匀,漫射侧照明 ★ 光源 检测IC芯片上的印刷字符,检测电路板元件 晶片外部检测(背光),焊接检测 检测橡胶类制品,封盖标记检测 检查封盖内部和底部的脏污 间接型 扁平环状方式 平滑,扩散的顶点光 ★ 光源 电子元件的外部检测,检测透明胶片等的污点 SOP和CSP检测,液晶文字的检查 检测小型电子元件及QFP,SOP的尺寸和外形 检查轴承的外观和尺寸 检查半导体引线框的外观和尺寸 透射型 背光方式 用于轮廓检测 ★ 光源 包装破损检测,LCD破损检测 膨胀胶片破损检测,遮蔽胶带破损检测 伸展胶片破损检测,迭片结构破损检测 液晶零件的检查 透射型 线条方式 线形传感器的最佳照明 ★ 光源 金属,玻璃等光洁表面的划伤检查 芯片和硅晶片的破损检测 检测玻璃板的表面损伤 检测PC母板的图谱 同轴型 同轴方式 均匀照明反光工作界面 ★ 光源 * 谢谢大家! 天天工业自动化培训中心 * 物方远心物镜 采用平行光路设计,物方远心物镜是将孔径光阑放置在光学系统的像方焦平面上。 工业镜头的主要类别:远心镜头 远心镜头 * 像方远心光路 像方远心光路是将孔径光阑放置在光学系统的物 方焦平面上,而像方的主光线平行于光轴。 工业镜头的主要类别:远心物镜 远心物镜 * 在测量系统中,物距常发生变化,从而使像高发生变化,所以测得的物体尺寸也发生变化,即产生了测量误差; 即使物距是固定的,也会因为CCD敏感表面不易精确调整在像平面上,同样亲会产生测量误差。 采用远心物镜中的像方远心物镜可以消除物距变化带来的测量误差,而物方远心物镜则可以消除CCD位置不准带来的测量误差。 工业镜头的主要类别:远心物镜 远心物镜 * 远距物镜是一种焦距很长而镜筒较短的物镜,从物镜前表面到像平面的距离小于焦距,这对于长焦距物镜来说,有利于缩短物镜的轴向尺寸。按照上述原理构成的远距物镜,结构型式是各种各样的,尤其是前组,由于负担较大的光焦度,结构一般要比后组复杂。 工业镜头的主要类别:远距物镜 远距物镜 * 反远镜是一种焦距较短而后截距很长的物镜,这样,在物镜和CCD之间可以加入分光镜,以实现取景等作用。 工业镜头的主要类别:反远距物镜 反远距物镜 * 畸变物镜能够在它的像中预先引入规定的畸变。当物镜存在很大的负畸变时,实际上能够拍摄角视场超过180°的物空间。这种物镜用于宇航研究、气像测量中。 吉柳在1930年首先成功地实现了角视场180o和相对孔径1:22的畸变物镜(图1.1-30b)。畸变物镜可以按照反远距物镜的光路图作出。第一组由一或二个透镜组成,并造成很大的畸变(图c、d)。第二透镜组用于校正像差,以便获得清晰的像。 为了研制超广角物镜,像场角余弦四次方的影响是最大的障碍。但是由于负的畸变,在像场边缘上光束深缩,因而在像场边缘上实际光学密度并不比视场中心低。 工业镜头的主要类别:畸变物镜 畸变物镜 * 常用镜头图片 定倍远心镜头 Navitar zoom6000 连续变倍镜头组件 Navitar zoom6000 连续变倍镜头 定焦镜头 光源 ★ 光源 一、地位与重要性 摄取图像 处理图像(加工·分析) 运动控制 理想的图像 ★ 光源 一、地位与重要性 ★ 光源 地位:三大技术之一(采像技术,处理技术,运动控制技术)。 关键:直接影响系统的成败,处理精度和速度。 明亮、稳定、均匀的光源极其重要。 目的:将被测物与背

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