072011513微波介质和体效应管负阻特性的测量.pdfVIP

微波应用实验内容 1. 测量信号源的伏安特性曲线，说明信号源工作原理 2. 测量样品谐振腔（无样品）的谐振曲线 3. 测量样品谐振腔（有样品）的谐振曲线 4. 测量并计算三个介质棒的介电常数和损耗角 注：要求在报告中，用origin 将两条谐振曲线（有样品和无样品情况）以不同的 线形画在同一张图上，标注出曲线对应的谐振频率及品质因子。 注意事项 1. 由于测量时示波器显示的是f-t 和P-t 曲线，所以要求将其变为P-f 曲线显示 2. 因为对于示波器而言，接收到的f 信号是以电压为单位的，所以需要用波长 表精确测量频率 3. 最终报告需要用 origin 将两条谐振曲线（有样品和无样品情况）以不同线形 画在同一张图上，更好的说明该实验所用的方法，因此需要将示波器上显示 的P-f 曲线存下来。 4. 因为存取的是jpg 的图像，需要用windig.exe 软件读图，将其数据化，同时 需要找出不同点对应的频率值，得到P-f 曲线 微波应用 ——用反射式谐振腔测量介电常数和介电损耗角正切 介电常数是表征介质特性的一个重要参量。电介质在微波技术中应用很广泛， 例如用作同轴线中的绝缘层、加载波导管中的介质块和多种器件的支持装置等。 应用微波铁氧体材料已制成许多常用的微波器件，例如隔离器、环行器和开关器 件等。近年来，由于对雷达固体小型化的需求，微波集成电路得到迅速的发展， 而微波集成电路常用的基片材料就是氧化铝和微波铁氧体。因此，微波介质材料 (包括电介质和微波铁氧体) 的介电常数和介电损耗角正切的测量，对于研究材料 的微波特性和设计微波器件都是十分重要的。 谐振腔法是测量介质特性参量常用的一种方法。通过实验，学习用谐振腔法 测量介电常数的原理和方法。 (一) 谐振腔 谐振腔用于微波波段的谐振电路，通常是在波导的两端用导电板短路而构成 的封闭腔体。电磁场被限制在腔内，没有辐射损耗，谐振腔的品质因数 Q 值较 高。随着谐振频率的提高，要求腔体的尺寸减小,致使损耗加大、Q 值下降，所 以在毫米波、亚毫米波还采用开放腔。 在理想的无耗谐振腔内，任何电磁扰动一旦发生就永不停歇。当扰动频率恰 使腔内的平均电能和平均磁能相等时便发生谐振，这个频率称为谐振频率。腔内 的电磁场可根据谐振腔的边界条件求解麦克斯韦方程组而得出，它是一组具有一 定正交性的电磁场模式的叠加。按波导两端被短路的观点，腔内的电磁场也可认 为是波在腔壁上来回反射而形成的驻波场。当腔长等于某种模式的 1/2 波导波长 整数倍时,该模式发生谐振，称为谐振模。谐振腔与外电路的能量耦合方式有： 环耦合、探针耦合和孔耦合 谐振腔的主要参数是谐振频率f 和品质因数 Q 。谐振频率决定于腔的形状、 尺寸和工作模式。谐振腔的有载品质因数 QL 为 f (u ,…,u ,0) A (u ,…,u ) ⎧ 1 n 1 n ⎨ ( , , , ) [ , , , , ( , , , )] f u1 …un Sn B u1 …un x f u1 …un x ⎩ 谐振腔的损耗包括内部损耗和外部损耗，前者为腔壁导体的损耗和腔内介质 的损耗；后者取决于通过耦合孔反映的外电路负载情况 1 1 1 =+ Q Q Q L i e 式中 Q 称为内部品质因数（也称为固有品质因数或无载品质因数），Q 称为外部 i e 1