是徳科技半导体参数测试设备-Keysight Catalog 2015-半导体.pdfVIP

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是徳科技半导体参数测试设备-Keysight Catalog 2015-半导体.pdf

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是徳科技半导体参数测试设备-Keysight Catalog 2015-半导体

电子测试与测量样本2015 | Keysight | 219 半导体和功率半导体参数分析仪/曲线追踪仪概述 B1500A 半导体分析仪 B1505A/ B1506A 功率器件分析仪/ 曲线追踪仪模块化SMU和开关矩阵广泛的器件表征应用是德科技功率器件分析仪全系列产品是功率器件表征的创新测试解决方案，支持广泛的源范围(10 kV 和1500A) 和低电平精密测量功能(sub- Keysight B1500A 器件参数分析仪支持基本的电流- 电压(IV) 和电容- pA/μΩ 电阻) 。另外，分析仪还具有温度测量和自动测试功能，可为功电压(CV) 表征以及业界领先的超快瞬时脉冲IV 测量。如今，Keysight 率器件制造商和用户缩短设计周期。 B1500A 的功能不再局限于半导体表征以及应对测量挑战。下面列出了一些典型应用。典型测试应用编号应用器件分类应用测试 1 半导体器件表征建模, 包括封装器件和Wafer测试 CMOS Id-Vg 、Id-Vd 、Vth 阈值电压、gm跨导、击穿BV 、电容、 QSCV 等 2 电流-电压(IV) 曲线测量, 也适用于材料表征双极结型晶体管 Ic-Vc 、Gummel 曲线图、击穿BVceo 、电容等 3 电容测量方法和解决方案, 分立器件 Id-Vg、Id-Vd、二极管IV-fwd、二极管IV-rev 、C-f 、C-t等包括准静态电容-电压(CV) 和高频电容-电压(CV) 测量, 也适用于材料表征存储器 Vth、电容、Endurance 耐久性测试、IV 曲线、电阻R、脉 4 测量解决方案包括电流-电压和电容-电压(IV/CV) 以及超快速脉冲IV, PRAM RRAM 冲内动态电阻R* 、NBT I、T DDB、HCI、10 ns 超