第12章大学物理光学(干涉).ppt

三、光 程（optical path） 相位差在分析光的干涉时十分重要，为便于计算光通过不同媒质时的相位差，引入“光程”的概念。 光在介质中传播时，光振动的相位沿传播方向逐点落后。光传播一个波长的距离，相位变化2?。 引入光程慨念，相位差公式相同。 下面举例说明。 [例]如图，在S2P间插入折射率为n、厚度为d的媒质。 求：光由S1、S2到P的相位差?? 。 在光的干涉和衍射中常用到透镜。透镜成象, 象点是亮点，说明光线是同相叠加，即在焦点处各光线是同相位的。由于平行光的波阵面与光线垂直，所以从垂直入射平行光束的任一平面到会聚点，各光线之间的光程差为零（等光程原理）。使用透镜不会产生附加的光程差。 路程（波程）不同，但光程相同。解释：如下图：AaF、CcF在空气BbF透镜的折射率大于真空中的折射率， (equal inclination fringes) 劈尖干涉条纹是一系列明暗相间的、等间距分布的、平行于棱边的平直条纹。 劈尖干涉条纹 依据： 测表面不平度 测波长：已知θ、n，测L可得λ 测折射率：已知θ、λ，测L可得n 测细小直径、厚度、微小变化 Δh 待测块规 λ 标准块规 平晶 等厚条纹 待测工件 平晶 应用 例题12-11 在半导体元件生产中，为了测定硅片上SiO2薄膜的厚度，将该膜的一端腐蚀成劈尖状，已知SiO2 的折射率n =1.46，用波长? =589.3 nm的钠光照射后，观察到劈尖上出现9条暗纹，且第9条在劈尖斜坡上端点M处，Si的折射率为3.42。试求SiO2薄膜的厚度。 Si SiO2 O M 解：由于 由暗纹条件 知,第9条暗纹对应于k=8,代入上式得 所以SiO2薄膜的厚度为1.72 ?m。 例题12-12 为了测量金属细丝的直径，把金属丝夹在两块平玻璃之间，形成劈尖，如图所示，如用单色光垂直照射 ，就得到等厚干涉条纹。测出干涉条纹的间距，就可以算出金属丝的直径。某次的测量结果为：单色光的波长?=589.3 nm金属丝与劈间顶点间的距离L=28.880 mm，30条明纹间得距离为4.295 mm,求金属丝的直径D？ L D 思路： 解: 相邻两条明纹间的间距 其间空气层的厚度相差为?/2。于是， 其中?为劈间尖的交角。因为? 很小，所以 代入数据得 例题12-13 利用空气劈尖的等厚干涉条纹可以检测工 件表面存在的极小的加工纹路， 在经过精密加工的工件表面上放一光学平面玻璃，使其间形成空气劈形膜，用单色光照射玻璃表面，并在显微镜下观察到干涉条纹，如图所示，试 a b ?h b a ?h ek-1 ek 根据干涉条纹的弯曲方向，判断工件表面是凹的还是凸的；并证明凹凸深度可用下式求得: 解:如果工件表面是精确的平面,等厚干涉条纹应该是等距离的平行直条纹，现在观察到的干涉条纹弯向空气膜的左端。因此，可判断工件表面是下凹的，如图所示。由图中相似直角三角形可知: 所以 a b ?h b a ?h ek-1 ek . S 分束镜M 显微镜 o 牛顿环 装置简图 平凸透镜 平晶 牛顿环：一束单色平行光垂直照射到此装置上时，所呈现的等厚条纹是一组以接触点O为中心的同心圆环。 (1) 牛顿环实验装置及光路 2.牛顿环 (2) 反射光光程差的计算 e A 1 2 (3) 牛顿环干涉条纹的特征 ① 明暗条纹的判据 r R e 0 由几何关系可知 明纹 暗纹 k=0，r =0 中心是暗斑 ………… 牛顿环干涉条纹是一系列明暗相间的同心圆环。 明环 暗环 明环 暗环 ② 相邻暗环的间距 内疏外密 明环 暗环 牛顿环干涉是一系列明暗相间的、内疏外密的同心圆环。 测透镜球面的半径R 已知?, 测 k、rk+m、rk，可得R 。 测波长? 已知R，测出k 、 rk+m、rk， 可得? 。 检验透镜球表面质量 标准验规 待测透镜 暗纹 ? 应用： 依据：公式 构造与光路示意图 *§12-6 迈克耳孙干涉仪 M?1 2? 2 1 1? S M2 M1 G1 G2 E 半透 半反膜 工作原理 光束2′和1′发生干涉 若M??1、M2平行 ? 等倾条纹 S M2 M1 G1 G2 M?1 2? 2 1 1? 等倾条纹 工作原理 光束2′和1′发生干涉 若M??1、M2有小夹角 ? 等厚条纹 S M2 M1 G1 G2 M?1 2? 2 1 1? 各种干涉条纹及M?1，M2相应位置如下图示： M? 2