最新数字电路设计调测方法及电气制图知识(LU).ppt

电工电子实验(一) EDA教研室 卢庆莉 本次课的教学内容 数字电路的实验方法与调测 数字电路的原理图绘制 SSI组合逻辑电路实验P138 J1,P140 Y1 预习报告和实验报告的写法 数字电路的实验方法与调测 TTL与COMS数字集成电路的使用规则 常用的数字集成电路及要点 数字电路的设计与测试 数字电路的装配 数字电路实验箱 TTL与COMS数字集成电路的使用规则 一.TTL器件使用规则 TTL是晶体管----晶体管逻辑电路的简称。 双极型器件：速度高而集成度低。 1.电源 TTL器件对电源电压要求很严，电源电压Vcc=5±0.5V，超过这个范围将损坏器件或功能不正常。TTL电路的静态电流相当可观，应使用稳定的、内阻小的稳压源，并要求有良好的接地。 2.多于输入端的处理 (1)对与门和与非门的多余输入端可采用下面2种方法处理： 接高电平 若前级驱动能力强，则可将多余输入端与使用端并联起来使用 3.输入电压：允许范围为+5.5～0.7V。若大于上限值，多发射极晶体管的发射结可能击穿；低于下限值时，衬底结可能导通。 4.输出端： ★输出端不允许直接接+5V电源或接地。 ★不允许两输出端短接，否则将烧毁芯片。 二. COMS器件使用规则 单极型器件：集成度高而速度低。 COMS是互补型MOS集成电路。 1.电