光栅投影三维测系统的关键技术研究.pdfVIP

摘要 光学三维测量技术以现代光学为基础，融光电子学、计算机图像处理、图形 学、信号处理等科学技术为一体，是二十世纪科学技术飞速发展所催生出的现代 测量技术，在工业生产控制与检测、机器人视觉、空间遥感、医学诊断以及打击 犯罪等领域具有重要意义和广泛的应用前景。本文主要研究基于光栅投影的三维 测量的理论、方法及其关键技术，并将相应成果应用到三维测量系统的开发实现 中，具体包括： (1)对光栅投影技术的关键环节进行分析，指出了影响系统性能的关键因 素。介绍了当今三维测量技术的发展现状，对光栅投影技术的理论基础展开研究， 即基于三角法的测量原理和基于相位法的光栅图像处理。经过深入的研究，指出 在测量原理方面，对系统空间结构的建模是影响测量及标定精度的主要因素；在 光栅图像处理方面，投影光栅的正弦性和解相位的效率是影响相位求取精度和速 度的重要因素。 (2)提出了新的光栅投影原理模型和标定方法。传统的光栅投影法对系统 的光路结构，即投影装置、摄像机和参考面的相对位置关系要求严格，实际操作 中很难达到。深入分析了光栅投影系统中的相位一高度关系以及系统空间结构的 约束条件，将传统二维模型中的相位．高度关系推广到三维空间中，建立了新的 相位法测量模型。基于新的系统模型，提出一种快速标定方法。新模型对系统结 构并无任何严格的平行，垂直或相交的要求，在标定过程中，对标定面的位置也 没有严格的要求。实验结果表明，系统结构易于实现，标定方法简单有效，提高 了系统标定的可操作性以及标定速度，标定时间在2分钟以内，系统的测量精度 较传统方法有较大提高。 (3)提出了投影光栅的相位自校正方法。在三维测量技术中，投影出具有 标准正弦分布的光栅条纹直接影响到相位求取的精度。对投影光栅的正弦性进行 深入研究，提出了一种针对数字投影仪的光栅相位自校正方法，对投影仪投出的 光栅条纹，应用n步相移法通过条纹图像得到其理想的相位分布，然后根据理想 相位分布和实际相位分布的映射关系，对投影仪的光栅模式进行自校正。实验结 果表明，经过3～5次自校正后，投影仪投影出的光栅条纹正弦性误差降低80％～ 90％，可以得到较理想的正弦分布的投影光栅。 (4)提出了基于条纹摄动的快速解相位方法。总结了现有的解相位方法， 针对时域和空域解相位方法在精度和速度方面的问题，提出了一种快速可靠的4 步相移编码一解相位方法。通过对中心条纹的光强进行摄动，将编码信息加入到 基本相移光栅中，使4幅基本相移图不但包含了相位场主值信息，还包含了解相 位所需的编码信息。建立了摄动度函数描述相移图的摄动信息进而得到编码信 息，解出完整的相位值。对摄动度函数的误差和噪声进行分析，提出方向滤波方 法来消除噪声，极大的减少了编码信息的误判情况。仿真和试验说明了本方法的 可行性。与传统相移法相比，通过对4幅基本相移图可以解出完整的相位值，解 相位的速度和可靠性得到明显的提高。 (5)实现了光栅投影三维测量系统。在上述关键技术研究的基础上，将研 究成果应用到实际中，开发了一台便携式的可移动光栅投影三维测量系统。系统 结构中，投影仪和摄像机等测量元件集成在测量头上，系统结构灵活、构建方便 快捷。采用模块化设计方法，编制了一套集光学控制、计算处理和三维立体显示 于一体的软件，实现了光栅投影系统的标定、光栅的自动生成和投影、相位自校 正、摄动法解相位及三维测量等功能。系统集成了本文对光栅投影法关键技术的 研究成果，整体测量精度为0．06ram，标定时间在2分钟以内，测量时间为3,-一5 秒，整体性能达到并部分超过国际先进水平(如Atos等)。 关键词：光栅投影；三维重构；主动式视觉；光学测量；图像处理；系统标定； 解相位；摄动；方向滤波 II Abstract three—dimensionalmeasurement isbasedonthe Optical shape technology modem and integrated谢t11 optics optoelectronics，computerimageprocessing， andSOon，which