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第 54 卷 第 8 期 2005 年 8 月 物 理 学 报 Vol. 54 ,No. 8 ,August ,2005
( )
10003290200554 08 352307 ACTA PHYSICA SINICA 2005 Chin. Phys. Soc.
钚体源样品 γ能谱计算的蒙特卡罗方法
郝樊华 胡广春 刘素萍 龚 建 向永春 黄瑞良
( 中国工程物理研究院核物理与化学研究所, 绵阳 621900)
师学明 伍 钧
(北京应用物理与计算数学研究所 , 北京 100088)
( )
2004 年 8 月 23 日收到;2005 年 3 月 16 日收到修改稿
提出了钚体源样品 γ能谱分步计算的蒙特卡罗模型和方法. 采用分步和直接计算两种方法对球壳形钚体源样
γ γ
品的 能谱进行了模拟计算. 用实验测量的 能谱验证了计算结果的可靠性 ,计算结果与实验测量值在 10 %的误
差范围符合. 通过对 Steve Fetter 模型的模拟计算表明 :对于外面包有若干屏蔽层的钚体源样品大系统 ,采用分步方
法进行能谱计算 ,可以使结果快速收敛.
关键词 : 钚体源样品 , 蒙特卡罗方法 , γ能谱 , Steve Fetter 模型
PACC : 2930 K, 2990 , 0270
测量能谱进行了比较 ,验证了体放射源能谱分步计
1 引 言 算方法的可靠性 ,并对两种计算方法作了比较.
核弹头的属性识别在核弹头核查中具有重要意 2 计算方法
义. 核弹头属性包括核弹头中裂变材料的种类、年
龄、同位素丰度和质量等. 被动 γ能谱测量是核弹头
21 分步计算方法
属性识别的重要手段之一[1 ,2 ] . 由于开展实验研究存
在多方面的困难 ,理论计算是一种较易行且有效的 分步计算方法是指将粒子的输运过程分为若干
方法. 本文研究的问题是在已知核材料数量和组成 步骤完成 ,这样便于使用一些 MC 技巧提高计算效
( ) γ 率. 在我们的计算中是将 γ能谱的计算分为两个步
的情况下 ,利用蒙特卡罗 MC 方法模拟应测得的
能谱. 类似的工作国内外曾有人做过[3 ] ,但对材料吸 骤 :第一步构造面源 ,在该步可以使用 MCNP4B 的各
收非常强的模型计算和实验尚未见报道. 种技巧 ;第二步是直接计算面源的探测能谱.
随着研究对象的复杂化、屏蔽材料加厚 ,利用 第一步主要完成三步计算.
MCNP4B 程序提供的 F8 卡直接计算 γ能谱的效率 首先 ,估算探测器表面 γ射线入射流 ,计算分析
(
降低并且计算结果的统计误差增大. 特别是对复杂 各表面的入射流大小 ,忽略入射流贡献小的表面 例
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