控制回路的性能估方法研究.pdfVIP

摘要 摘要 现代的大型过程工厂中通常存在成千上万的控制回路，这些控制回路在运行 的初期～般都具有良好的性能。但若没有定期的维护，控制回路的性能会随着时 间的推移而下降。控制回路性能不佳将降低控制回路的有效性，进而可能导致产 品产量降低、不合格产品和操作成本增加等问题。同时，过程动态特性经常发生 变化，只有少数的控制工程师来维护这些回路。因此，需要一些工具可以方便地 帮助评估每个控制回路的性能。 目前，评估控制回路性能的方法大都是以最小方差控制为基准。然而，最小 方差控制需要过程和干扰的准确模型，这对实际工业过程而言很难实现。由于基 于最小方差的性能评估方法仅考虑了过程时延引起的性能限制，对于使用PID这 样有固定结构的控制器的控制回路，则可能无法真实地反映控制回路的性能。 本文主要针对工业过程中最常用的PID控制器，提出了模型验证和控制回 路性能评估的方法。 论文首先介绍了PID控制回路的性能指标及评估方法。并针对由于过程模 型或扰动模型失配而引起的性能不佳的情况，提出了一种模型验证方法，引入一 个准自噪声序列，测取实际输出序列与实际控制序列，对实际输出