华磊光电外延芯片介绍概述.ppt

  1. 1、本文档共40页,可阅读全部内容。
  2. 2、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。
  3. 3、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  4. 4、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
华磊芯片目前方向: 1、以08*15mil芯片成为小尺寸方片的市场主攻方向,光通量可达到5lm以上; 2、不断提升10*23mil品质以满足背光源市场需求; 3、大功率芯片的研发 4、华磊下阶段将向下游延伸,封装线也正在筹划中,目前小量验证线如SMD、Lamp及High-power的封装已经逐渐完善,基本接近国内封装厂水平,为下一步封装线的建立打下良好基础。 外延生长:MO源及NH3由载气传输到反应室,以质量流量计控制气体流量,反应物进入反应室后经载气传输到衬底表面反应形成外延薄膜。 主要设备有MOCVD、活化炉、PL 、X-Ray、PR、镭射打标机等。 一、前工艺 前工艺主要工作就是在外延片上做成一颗颗晶粒。简单的说就是Chip On Wafer的制程。利用光刻机、掩膜版、ICP、蒸镀机等设备制作图形,在一个2英寸的wafer片上做出几千~上万颗连在一起的晶粒。 目前华磊生产的芯片主要有: 小功率:07*09mil、08*12mil、08*15mil 12*13mil、10*16mil… 背光源:10*23mil… 高功率:45*45mil… 设备简介: 黄光室:匀胶机、加热板、曝光机、显影台、金相显微镜、 甩干机、台阶仪 清洗室:有机清洗台、酸性清洗台、撕金机、扫胶机、 甩干机 蒸镀室:ICP、ITO蒸镀机、合金炉管、Pad蒸镀机、PECVD、 扫胶机、手动点测机、光谱仪 二、后工艺 后工艺是将前工艺做成的含有数目众多管芯的晶片减薄,然后用激光切割成一颗颗独立的管芯。 研磨切割设备:上蜡机、研磨机、抛光机、清洗台、粘片机、切割机、裂片机。 FQC:负责检验各种规格的方片或大圆片的电性和外观,合格后判定等级入库。 ORT:抽样进行封装、老化测试。 Chip Top SMD Sideview 结构:倒装芯片、布拉格反射层等 颜色:红外,红,黄,绿,蓝,白,etc. 功率:1W,2W,3W,5W,7W,10W,12W,etc. Power LED 出光面外观类型:圆头,平头,草帽型,钢盔型,etc. 封胶类型:无色透明,无色扩散,有色透明,有色扩散 直径:Φ3,Φ5,Φ8,Φ10,etc. 发光颜色类型:红外,红,黄,绿,蓝,白,全彩,etc. Lamp LED 钢盔 子弹头 草帽 蝴蝶 Lamp 圆头 内凹 平头 方形 贴片式SMD 中功率LED 湘能华磊光电股份有限公司 湘能华磊光电股份有限公司 外延生长 芯片前工艺 研磨、切割 点测、分选 检测入库 蓝宝石衬底 GaN缓冲层 N型GaN : Si 多量子阱有源区(InGaN/GaN) P型GaN:Mg P型InGaN-金属接触层 芯片工艺一般分为前工艺、后工艺、点测分选三部分 ICP 曝光机 PECVD 蒸镀机 做透明导电层 Substrate P--GaN N--GaN 前工艺 UV Substrate N--GaN P--GaN mask UV ITO 做透明导电层 Substrate P--GaN N--GaN ITO 电极 做透明导电层 Substrate P--GaN N--GaN ITO 电极 二氧化硅保护层 1-MESA(刻台阶) 3-做电极 4-做保护层 2-做透明导电层(ITO) 单颗晶粒前工艺后成品图 IPQC (In-Process Quality Control) IPQC主要是对芯片的电性参数做检测,然后品保会根据电性参数来判定晶片是继续下道工序还是需要返工,检测的电性参数主要有: Vf (正向电压) Iv (亮度) ESD(抗静电能力) Ir (逆向电流) Wd (波长) 研磨机 上蜡机 NEW WAVE 激光切割机 JPSA 激光切割机 里德 劈裂机 后 工 艺 切 割 裂 片 研磨抛光 陶瓷盘 晶片背面朝上 AA0234YBBT18 AA0234YBBT18 AA0234YBBT18 切割 研磨 抛光 从晶片背面劈裂, 劈开后晶粒完全分开 研磨是减薄厚度的主要来源,衬底从450um减少至100um 抛光可以使背表面更光滑,并且可以减少应力 裂片 激光切割后的切割线 点测分选的主要工作: 1.点测大圆片或方片上每一颗晶粒电性和光学性能; 2. 将大圆片按照条件表分成规格一致的方片; 3. 吸除外观不良部分,并贴上标签。 设备简介: 点测机、分选机、显微镜等 分选机 点测机

文档评论(0)

w447750 + 关注
实名认证
内容提供者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档