一般从属过程占时测度的乘积测度的重分形结构.pdfVIP

中国科学 A 辑 : 数学 2009 年 第 39 卷 第 6 期 : 689 ∼ 699 一般从属过程 占时测度的乘积测度的重分形 结构 孔令涛, 胡晓予 ∗ 中国科学院研究生院数学科学学院, 北京 100049 E-mail: xyhu@ 收稿 日期: 2008-03-06; 接受 日期: 2008-10-17; * 通信作者 国家 自然科学基金 (批准号: 资助项 目 摘要 本文主要研 究 了两个相互独立 的从零 点出发 的一般从属过程 的轨道性质及 它们 的 占时测度乘积的重分形谱. 关键词 一般从属过程 占时测度 Hausdorff 维数 重分形谱 MSC(2000) 主题分类 28A80, 60G17 1 引言 本文 中用 c , i = 1, 2, . . . 表示常数. i 设 X 是从零点出发的从属过程, 即 X 是直线上轨道单增的平稳独立增量过程且 X (0) = 0. X 的 Laplace 变换为: Ee−uX (t) = e−tg (u) , 其 中 g (u) = ∞ (1 − e−ux )ν (dx), ν 为 L´evy 测 0 度, g (u) 称为 X (t) 的 Laplace 指数, g (u) 是单调增函数. 从属过程 X (t) 有两个重要指标: σ = sup{α : u−αg (u) → ∞, 当 u → ∞ 时}, β = inf {α : u−αg (u) → 0, 当u → ∞时 }, (1) 称 σ (β) 为 X 的下 (上) 指标. 定义 X 的占时测度为: m(A) = L({t ∈ [0, 1] : X (t) ∈ A}), A 是实空间 R 上的 Borel 集, L 为 Lebesgue 测度. 对任意测度 m, suppm 表示测度 m 的支撑, 集合 A(m, α) = x ∈ suppm : lim log m(B (x, r)) = α r→0 log r 称为 suppm 的谱分解, 其 中 B (x, r) 表示 中心为 x, 半径为 r 的球, A(m, α) 的分形维数称为 重分形谱. 更多细节参见文献 [1]. 令 h(r) = 1 , S = {t ∈ [0, 1] : lim sup log m(B (x,r)) γ }(1 γ 2), m 为一般从属 g ( 1 ) γ r→0 log(h(r)) r 过程 X 的占时测度, Hu[2] 研究 了薄点集合 Sγ 的重分形结构并得到了如下结果: (1) 以概率 1: 2 dim Sγ = − 1, 1 γ 2, (2) γ 引用格式: 孔令涛, 胡晓予. 一般从属过程 占时测度的乘积测度的重分形结构. 中国科学 A, 2009, 39(6): 689–699 Kong L T, Hu X Y. Multifractal analysis of the product measure of two general subordinators. Sci China Ser A, 2009, 52, DOI: 10.1007/s11425-009-0072-0 孔令涛等: 一般从属过程 占时测度的乘积测度的重分形结构 其 中 dim 表示 Hausdorff 维数; (2) 以概率 1: