介质层对超材料太赫兹响应特性的控制规律.pdfVIP

第34卷第3期 红外与毫米波学报 V01．34．No．3 2015年6月 J．InflaredMillim．Waves June．2015 文章编号：1001—9014(2015)03—0333—07 介质层对超材料太赫兹响应特性的控制规律 敖天宏， 许向东+， 黄 锐， 蒋亚东， 姚 洁， 何 琼， 孙自强， 温粤江， 马春前 (电子科技大学光电信息学院，电子薄膜与集成器件国家重点实验室， 光电探测与传感集成教育部重点实验室，四川成都610054) 摘要：作为超材料的重要组成部分，介质层是影响超材料响应特性的关键因素．固定超材料的尺寸和表层金属图 形．通过理论推导和仿真模拟详细分析了在太赫兹波段下介质层的介电常数和厚度两个参数对超材料响应特性的 控制规律，并首次确定了响应频率与介电常数的关系方程．结果表明，在其他参数不变的情况下，超材料的响应频 率主要取决于介质层的介电常数的实部大小，而其吸收率则主要取决于介质层的厚度．据此，提出一种设计超材料 的新方法：首先将设计要求的响应频率代入频率方程计算出相应介质层的介电常数，由此挑选合适的介质材料；然 后固定介电常数、调节介质层厚度，获得在特定频率具有特定吸收率的超材料． 关键词：太赫兹；介质材料；超材料；频率方程；控制规律 中图分类号：0441 文献标识码：A Controlofterahertz ofmetamaterials properties response dielectric by layer A0 Jie，HEQiong， Tian—Hong，XUXiang-Dong4，HUANGRui，JIANGYa—Dong，YAO SUN WEN MA Zi—Qiang， Yue—Jiang， Chun—Qian of ofElectronicScienceand of (School TechnologyChina(UESTC)， OptoelectronicInformation，University State ofElectronicThinFilmsand ofEducation Laboratory IntegratedDevices，MinistryKey Key ofPhotoelectricDetection＆Sensor 610054，China) Laboratory IntegrationTechnology，Chengdu of isoneofthe factors the an dielectric Abstract：Asimportantmetamaterials，thelayer key influencingproperties