半导体光电检测器件及应用祥解.ppt

CCD在检测方面的应用 几何量测量 自动步枪激光模拟射击系统。 图象检测 光谱测量 光谱仪输出信号测量。 CCD图像传感器应用 CCD图像传感器在许多领域内获得了广泛的应用。前面介绍的电荷耦合器件(CCD)具有将光像转换为电荷分布，以及电荷的存储和转移等功能，所以它是构成CCD固态图像传感器的主要光敏器件，取代了摄像装置中的光学扫描系统或电子束扫描系统。 CCD图像传感器具有高分辨率和高灵敏度，具有较宽的动态范围，这些特点决定了它可以广泛应用于自动控制和自动测量，尤其适用于图像识别技术。CCD图像传感器在检测物体的位置、工件尺寸的精确测量及工件缺陷的检测方面有独到之处。下面是一个利用CCD图像传感器进行工件尺寸检测的例子。 CCD图像传感器工件尺寸检测系统 上图为应用线型CCD图像传感器测量物体尺寸系统。物体成像聚焦在图像传感器的光敏面上，视频处理器对输出的视频信号进行存储和数据处理，整个过程由微机控制完成。根据光学几何原理，可以推导被测物体尺寸的计算公式，即： 式中： n——覆盖的光敏像素数； p——像素间距； M——倍率。 微机可对多次测量求平均值，精确得到被测物体的尺寸。任何能够用光学成像的零件都可以用这种方法，实现不接触的在线自动检测的目的。 人有了知识，就会具备各种分析能力， 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书，广泛阅读， 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识， 培养逻辑思维能力； 通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平， 培养文学情趣； 通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操， 给我们巨大的精神力量， 鼓舞我们前进。 * * * 2、倍增系统（Dynodes ） 倍增系统：是指由各倍增极构成的综合系统，各倍增极都是由二次电子发射体构成。 要求：二次电子发射系数要大 倍增极分类： 非聚焦型——只加速 聚 焦 型——加速聚焦 倍增极结构 1）倍增极材料 锑化铯（CsSb）材料具有很好的二次电子发射功能，它可以在较低的电压下产生较高的发射系数，电压高于400V时的δ值可高达10倍。 氧化的银镁合金材料也具有二次电子发射功能，它与锑化铯相比二次电子发射能力稍差些，但它可以工作在较强电流和较高的温度（150℃）。 铜-铍合金（铍的含量为2%）材料也具有二次电子发射功能，不过它的发射系数δ比银镁合金更低些。 新发展起来的负电子亲和势材料GaP[Cs]，具有更高的二次电子发射功能，在电压为1000V时，倍增系数可大于50或高达200。 （2）? 倍增极结构 光电倍增管按倍增极结构可分为聚焦型与非聚焦型两种。非聚焦型光电倍增管有百叶窗型（图4-4（a））与盒栅式（图4-4（b））两种结构；聚焦型有瓦片静电聚焦型（图4-4（c））和圆形鼠笼式（图4-4（d））两种结构。 倍 增 极 结构形式 特 点 聚 焦 型 直瓦 片式 极间电子渡越时间零散小，但绝缘支架可 能积累电荷而影响电子光学系统的稳定性 圆瓦 片式 结构紧凑，体积小，但灵敏度的均匀性差 些。 非 聚 焦 型 百叶 窗式 工作面积大，与大面积光电阴极配合可制 成探测弱光的倍增管，但极间电压高时， 有的电子可能越级穿过，收集率较低，渡 越时间零散较大。 盒栅 式 收集率较高（可达95%），结构紧凑，但 极间电子渡越时间零散较大。 3、阳极 阳极是采用金属网作的栅网状结构，把它置于靠近最末一级倍增极附近，用来收集最末一级倍增极发射出来的电子。 阳极结构示意图 要求： ①　接收性能良好，尽可能多的收集电子，工作在较大电流时，不至于产生空间电荷效应。 ②　输出电容要小。 光电倍增管使用注意要点 不宜用强光，容易引起疲劳 额定电压和电流内工作 入射光斑尺寸和管子的有效阴极面尺寸向对应 电场屏蔽和磁屏蔽 测交变光时，负载电阻不宜过大 3.2.4 光电耦合器件 定义：发光器件与光接受器件的组合器件。 类型： 光电耦合／隔离器：在电路之间传递信息，又能实现电路间的电气隔离和消除噪声。 光传感器：用于检测物体的位置或物体有无的状态。 发光器件：LED，LD，灯等 光接受器件：光电二极管／三极管，光电　　 　　池，光敏电阻。 1. PN结注入发光 PN结处于平衡时，存在一定的势垒区，其能带如图6-1 所示。当加正偏压时，PN结区势垒降低，从扩散区注入的大量非平衡载流子不断地复合发光，并主要发生在p区。 工作原理与特点 发光器件与光接受器件封装一体，但不接触，有很强的电气绝缘性，信号