金属及涂层法向热发射率的测定与检验.pdfVIP

第1卷第3期 工程热物理学报 Voll,N03 1980年8月 JOURNALOFENGINFERINGTHERMOPHYSICS Aug,1980 金属及涂层法向热发射率的测定与检验术 葛新石 程曙霞 徐秀兰 （中国科学技木大学） （中国科学院上海硅酸盐研究所）抖 摘 要 本文 介绍了两种简 易的法 向辨 发射率 测定装 置 第 一种是E Schmidt氏装置的简化与 改进，它是基于测定侍测物体表面的本身热辐射，铲二种是基于侧定侍测表面对一个热辐射源 辐射的反射率 而间接 地确 定执发射率对这两种装置的工作原理分别作出了近似的理论分析， 列出了实验数据经使 用表 明，这 两种装 置操作 方便 ，性能稳定，可用于表面批发射率的检 测 一、 引 言 在太阳能利用及空间技木中，吸执表面的灿发射率的大小直接影响集执器的批效率 N 及器件的平衡温度 虽铁许多传执学书籍特别是专I]的手册Li砧中列有各种材料在不同 .C 盟度时的大量执发射率数据，但除非是表面光店度极高的纯金属，表征各种材料实际表面 ET 扶态的氧化、污染、损伤等多种因素很难给予严格而定量地说明因此，建立简易的装置， .I 较准确而方便地对材料的热发射率进行直接侧定，十分必要 虽钛在实际的执工计算及 TP 设计中所需要的都是材料的半球向全执发射率8一，但测定法向热发射率8。要比测定8h JE 远为方便，并且，对于某些典型的材料表面，e。与8。之间具有一定的关系，故知道￡。后可 近似地确定8。 以下介绍测定8。的两种方珐 法向热发射率比较法 l装置简介 此法的原理是利用一热辐射接收器 （感受件）在相同条件下测定待侧表面和标准体的 批辐射并加以比较，故也称力 “接收器法圳3JESchmldt曾基于此原理建立了一台装置， 并用它测定了许多材料在常温时的珐向批发射率 ESchrmdt装置的描述可见文献[3】 及[4】，文献[5】曾财这种装置进行了近似的理论分析及实验数据的误差讨论这种装置 中的接收器是一对微分热电偶，此微分热电偶被固定在中间有一直孔的铜柱内，铜枉与一 钢杆相连，后者则焊接在由水冷却的腔壁上这种结构不仅加工复杂，且难以保证铜柱的 温度叵定不变 我们采用由多对热电偶串联联接的批电堆作为接收器 （图1），不但输出大为增加，且 +本文 曾于1978年11月在杭州全国第二届工程热物理学木会议上宣读 ”吴宗炎同吉参加了本工作的部分工作 工 程 热 物 理 学 报 1卷 测定装置亦可简化．改进后的装置如图2所示． 待测试样6用有 ‘螺纹的套盖环及密封橡皮 （未画出）固定在 “样品盒”内，后者由加热 水套7、水套外盖9组成，盒内通以 恒温水． 为使试样的温度均匀一致， “样品盒”与水冷管式光栏11之间装 有热绝缘垫块5． 接收器15用垫圈 14及固定螺环4固定在紫铜座12内， 加热水套7中的热水及水冷套2和水 冷管式光栏11中的冷水分别由恒温 水浴供给．需要的话，也可将水浴改 成油浴，或以电加热器加热试样，以测 定较高温度时的法向热发射率， 吸热面 CN 图2法向热发射率测定装置