电磁继电器贮存速寿命试验数据处理方法的研究.pdfVIP

河北工业大学硕十学惫论文 电磁继电器贮存加速寿命试验数据处理方法的研究 摘要 电磁继电器是一种最常见的低压电器产品，广泛地应用在国防军事与工业自动化等领域 中，其可靠性直接影响到整个系统的可靠性水平。本文所研究的产品为航天用密封式电磁继 电器，其贮存时间远远大于使用时间，所以更关心它在贮存阶段的可靠性。研究这种可靠性， 一般采用加速寿命试验的方法。 为了有效缩短试验时间，以便在较短的时间内对产品的贮存寿命进行推断及预测，这就 需要运用适当的数据处理方法对有限的试验数据进行分析，以期用来帮助推算产品的实际贮 存寿命。 本文采用一元线性回归、指数回归、加权指数回归、多项式回归(最小二乘法)和灰色 理论等五种分析方法分别对五种试验数据进行了拟合与预测。 1．阐述了每种方法的数据分析原理，并给出了五种拟合与预测模型参数的确定方法； 2．根据模型参数的求解步骤，设计了专门的数据分析软件，利用计算机辅助完成数据 处理： 3．给出了五种方法的拟合与预测结果，分析了数据处理的精度，同时针对各种方法的 预测效果作出了比较，并最终推算出试品的贮存失效期限。